适用范围：范围:本标准规定了单频光纤激光器主要参数测定相关的术语和定义、测试条件及要求、测试方法。本标准适用单频光纤激光器主要参数的测定; 主要技术内容:F-P腔扫频法是用法布里-珀罗扫描干涉仪直接检测激光器的单纵模特性。激光功率计直接测试法是直接测试激光器的输出功率和输出功率波动。激光波长计直接测试法是直接测试激光器的波长。基于频谱分析仪的直接测量法可以测量单频光纤激光器的强度噪声，通过光电探测器将激光信号转换为电信号，将电信号接入频谱分析仪测量得到其在频域的噪声电压，同时用数字万用表测量电信号的直流电压大小，通过计算获得激光器的相对强度噪声。基于非平衡迈克尔逊光纤干涉仪的光相位解调器联合相位生成载波技术（PGC）可以测量单频光纤激光器的频率噪声，当激光信号经过非平衡干涉仪时，光频的波动引起相位的变化，并转化为干涉仪输出光场强度的变化，干涉仪的输出信号经光电探测器转化为电信号后由相位解调仪基于PGC方案进行解调，解调出的干涉相位项即为激光器和解调干涉系统的相位噪声，解调的结果由频谱仪进行分析。基于马赫-泽德光纤干涉仪的延时自外差法可以测量单频光纤激光器的线宽，将一束激光信号分为两束后，分别进行延时与移频处理，然后再合束获得一个低频的拍频信号。该拍频信号的谱线宽度即为激光信号的线宽

适用范围：范围:本标准规定了超短脉冲光纤激光器主要参数测定相关的术语和定义、测试条件及要求、测试方法。本标准适用于超短脉冲光纤激光器主要参数的测定; 主要技术内容:光谱仪直接测试法是直接测试激光器的峰值波长和光谱带宽。激光功率计直接测试法是直接测试激光器的输出功率和输出功率重复性。基于示波器的直接测量法可以测量脉冲重复频率和脉冲重复频率重复性。基于频谱分析仪的直接测量法可以测量脉冲重复频率、脉冲重复频率重复性和基波频率峰信噪比，而基波频率峰信噪比是评估高重复频率锁模激光器性能的一项重要参数。基于测量得到的输出功率和脉冲重复频率得到脉冲能量。采用脉冲自相关信号测试仪器得到激光脉冲的干涉/强度自相关曲线，进而根据得到的自相关曲线半高全宽和反卷积因子计算脉冲宽度。这种测试方法可应用于测量皮秒、飞秒量级的超短脉冲，完善了仅通过示波器测量脉冲宽度的方法。基于测量得到的脉冲宽度和脉冲能量，在激光器处于孤子锁模的状态下计算脉冲的峰值功率。具体考虑了脉冲线型对结果的影响，完善了计算公式

适用范围：主要技术内容:本标准规定了激光设备的电气危险、安全防护要求及措施、使用信息和安全防护要求的检验。本标准适用于符合本文所规定的激光设备的电气安全要求及有关试验方法

适用范围：范围:本标准规定了基于激光诱导应变的大面积表面三维微纳结构加工方法。 本标准适用于在晶元级表面上，利用激光诱导调控多层膜体系的应变结构，设计并制备各种表面三维微纳结构; 主要技术内容:表面微纳结构展现出许多独特的光电磁等特性，已在许多领域得到了广泛的应用。随着表面科学与工程技术的快速发展，人们对表面结构的复杂性、多级次性、大面积等提出了愈来愈高的要求，这对现有的常规微纳加工技术在成本、工艺、批量生产、精准设计和可控加工等方面提出了新的挑战。近年来，各种新的非常规加工方法不断被探索和发展以期满足这些新的挑战。基于激光诱导应变的加工方法具有可精确设计、可控大面积制造、可实现复杂多级次结构和大批量低成本制造等特点。本标准提供一种基于激光诱导应变的大面积表面三维微纳结构的加工方法的规范。本文件的发布机构提请注意，声明符合本文件时，可能涉及到纳米薄膜制备[7.2条]具体内容与专利号为ZL201010033715.9 [一种超细晶金属或合金及其制备方法]内容相关的专利的使用

适用范围：本文件界定了80吋及以上Micro LED显示屏的术语定义。规定了Micro LED显示屏分类、技术要求、质量检验规范、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本文件适用于80吋及以上Micro LED显示屏包含Micro LED商用显示屏、Micro LED电视机、Micro LED监视器等的设计、生产、采购及验收。本文件不适用于医疗设备用、电影放映用等特殊用途显示产品。

适用范围：本文件描述了基于热耦合效应的LED阵列光学和色度性能评价方法，包含LED阵列的热-电-光谱模型建立,以及LED阵列的光学和色度性能评估。

适用范围：本文件规定了多芯片LED阵列热特性测试及评估方法。 本文件适用于LED阵列的温度控制和性能评估。

适用范围：本文件描述了单色Micro-LED芯片的光电性能测试方法。 本文件适用于发光台面(mesa)的长边边长（或直径）在1 μm～50 μm范围内的单色Micro-LED芯片的光电性能测试评估。

适用范围：本文件描述了低功率（nW～μW）微型发光二极管（以下简称Micro-LED）的外量子效率（EQE）测量方法，包括：Micro-LED芯片的点测和LED封装的测试。