适用范围：GB/T 7660的本部分规定了当光学系统中的反射棱镜作微量转动或角度存在制造误差时，物体经棱镜成像后，所产生像偏转的标定坐标系和像偏转特性参数，并以图表形式给出了70种常用反射棱镜像偏转特性的图示和像偏转的有关计算公式。 本部分适用于指导反射棱镜（以下简称棱镜）及其光学系统的设计，以及棱镜的制造、检验和调整。 本部分的定义、概念、术语及计算公式允许推广到棱镜组合系统、平面镜系统及棱镜、平面镜组合系统。

适用范围：GB/T 19864的本部分规定了高性能体视显微镜（以下简称显微镜）的基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装和运输、贮存。 本部分适用于连续变倍体视显微镜。 本部分不适用于手术显微镜。

适用范围：GB/T 19864的本部分规定了普及型体视显微镜（以下简称显微镜)的基本参数、要求、试验方法、 检验规则、标志、包装和运输、贮存。 本部分适用于非连续变倍体视显微镜。 本部分不适用于连续变倍体视显微镜和手术显微镜。

适用范围：本标准规定了办公复印机用镜头成像系统光学传递函数（OTF）的测量方法。 本标准适用于可扫描整个物像面的办公复印机镜头或采用扫描式或脉冲式照明系统的办公复印机镜头。 本标准不适用于阵列型的办公复印机镜头。

适用范围：本标准规定了使用适当的参考物质对扫描电镜（SEM）图像的放大倍率进行校准的方法。 本标准限于对由参考物质上线距大小的范围所决定的放大倍率进行校准。 本标准不适用于专用测长型扫描电镜。

适用范围：本标准规定了光学系统径向畸变的测量方法。 本标准适用于光谱范围在100 nm～15 000 nm内，且具有旋转对称特性的光学系统。对于符合旋转对称特性的电子光学图像系统，亦可参照使用。 本标准不适用于变形光学系统。

适用范围：本标准规定了用于光学显微术领域的术语和定义。

适用范围：本标准规定了对波片相位延迟测量装置进行校准的术语和定义、测量原理、校准方法和校准。 本标准适用于对各种原理的波片相位延迟测量装置的精度进行校准。

适用范围：本标准描述了用于显微术的浸液的特性，按其应用范围对浸液分类，并规定了每种型式的要求和试验方法。 本标准规定了浸液的标识方法以及容器标签上的信息和技术数据单应提供的信息。

适用范围：本标准规定了用于显微镜的可互换光谱滤光片直径的推荐尺寸以及滤光片的材料缺陷和工序疵病。

适用范围：本部分规定了湿热、低内压综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

适用范围：本部分规定了低压与大气温度、高温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

适用范围：本部分规定了含二氧化硫、硫化氢的湿空气的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

适用范围：本标准规定了光学纤维传像元件的术语和定义、试验方法。 本标准适用于像增强器、变像管、像增强型CCD等光电器件中使用的光学纤维传像元件。

适用范围：本部分规定了温度周期与正弦振动、随机振动综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

适用范围：本部分规定了污染、太阳辐射综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。

适用范围：本部分规定了机械作用力试验的试验条件、条件试验及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、力学、化学及电学等特性受到机械作用力影响的变化程度。

适用范围：本部分规定了宽带随机振动（数字控制）综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验 标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电气等性能受到宽带随机振动（数字控制）与高温、低温影响时的变化程度。

适用范围：本部分规定了砂尘试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验的目的是研究试样的光学、热学、机械学、化学和电学等特性受到砂尘影响的变化程度，特别是研究运动部件（如滑动面、轴承、接触器、控制装置、齿轮）的故障 或不能允许的表面磨损。本试验不用来确定对粗粒砂尘的耐磨性。

适用范围：本部分规定了低温、高温、湿热试验的试验条件、试验程序及环境试验标记。 本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。 本试验目的是研究试样的光学、热学、化学及电学等特性受到温度和湿度影响的变化程度。