19 试验
65 农业
77 冶金
  • YS/T 1160-2016 工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法 现行
    译:YS/T 1160-2016 Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction
    适用范围:本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。 本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定,测定范围为≥1%。
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 :H12轻金属及其合金分析方法
    发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2016-07-11 | 实施时间: 2017-01-01
  • YS/T 426.5-2000 锑铍芯块化学分析方法 电感耦合等离子体发射光谱法测定硅量 废止
    译:YS/T 426.5-2000 Methods for chemical analysis of antimony-beryllium pellets—Determination of silicon content—ICP-AES method
    【国际标准分类号(ICS)】 :29.100电气设备元件 【中国标准分类号(CCS)】 :H14稀有金属及其合金分析方法
    发布单位或类别:(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间: 2000-03-29 | 实施时间: 2000-10-01