适用范围：本标准规定了高加速应力筛选的一般要求和试验方法。本标准适用于电工电子产品及其电子部件、印制电路板组件等。对于大型整机，宜优先考虑对其前端的装配级别（如印制电路板组件、子模块）进行试验。本标准适用于产品的试产阶段或批量生产阶段。

适用范围：GB/T 2424的本部分规定了有关低温和高温试验的实施指南。

适用范围：本试验： ——为评价用于接触点和连接件的银和银合金变色提供了一种加速试验方法； ——尤其适用于作对比试验； ——不宜作为通用腐蚀试验，即它可能无法预测接触点和连接件在工业大气中的腐蚀行为。 注： 鉴于加速腐蚀试验获得的信息有限，应特别注意GB/T 2424.12给出的本试验导则。并参考GB/T 2424.10。

适用范围：GB/T 2424的本部分适用于为有关设计和试验人员在应用硫化氢试验规范时提供指导。

适用范围：GB/T 2423的本部分规定了一种以加速方式评定小型电工电子产品(主要是非气密元件)耐湿热劣化效应的标准试验方法。 本试验不适用于评定如腐蚀和变形等外部效应。

适用范围：GB/T2423的本部分适用于在规定的温度下、规定的时间内，将试验样品浸渍在清洗溶剂中的试验。 如果有关规范有要求，在浸渍和干燥以后试验样品应该用脱脂棉或薄卷纸擦拭。 本试验的导则见附录A。

适用范围：GB/T 2423的本部分提供对设备或部件在太阳辐射条件下试验的指导。 试验目的是为了检查设备或部件受太阳辐射影响的程度。 综合试验的方法可检测电、机械或其他物理性能的变化。

适用范围：GB/T 2424的本部分适用于给有关设计和试验人员在应用二氧化硫试验规范时提供指导。

适用范围：GB/T 2423的本部分规定了各种密封性能试验方法。试验Qa、Qc是粗检，观察从漏隙中冒出的气泡；试验Qd是在加温条件下观察液体的渗漏；试验Qy是在降压的条件下使气体通过漏隙进入试验箱，然后测量试验箱的性能变化；试验Qk、Qm是用示踪气体检测细漏；试验Qf、Ql是在加压条件下使液体通过漏隙进入其中，然后测量其性能变化。 本部分适用于检测各种电工电子产品的密封性能，也适用于其他密封零部件的密封性检测。

适用范围：GB/T 2423的本部分规定了电工电子产品利用风洞进行风压试验的术语、对试验设备和试验样品（以下简称试验件)的要求、试验条件和试验方法。 本部分适用于检验安装在户外的电工电子设备或部件（如雷达天线、微波天线、卫星天线等)承受风压时的适应性及评定其结构的合理性。 本部分不适用于固定电工电子设备或部件的塔架。

适用范围：GB/T 2423的本部分规定的试验用来确定元器件、设备或其他产品耐受环境温度快速变化的能力。实现这一目的所需的各温度下的暴露持续时间取决于试验样品的特性。

适用范围：本标准规定了移动实验室用温湿度控制系统的术语和定义、技术要求、试验方法。 本标准适用于各类陆地移动实验室温湿度控制系统的通用技术条件。

适用范围：GB/T 2423的本部分给出了确定试验样品在承受依次由温度、湿热和低气压(必要时)等环境应力组成的环境条件时的环境适应性的一种标准的组合试验方法。 施加应力的次序与试验步骤转换时的环境条件已经选定，以便加速并强化与自然气候条件相同的劣化机理。

适用范围：GB/T 2424的本部分给出了大气腐蚀加速试验条件、方法的适用可能性及各种加速试验的应用导则。 本部分适用于为电工电子设备或元器件产品编制大气腐蚀加速试验方法标准、试验大纲及进行人工加速腐蚀试验的指南，供编制大气腐蚀加速试验方法标准、规程及进行人工加速腐蚀试验时参考。

适用范围：GB/T 2423 的本部分提供了一种组合试验方法，主要用于元器件类试验样品，以加速方式来确定试验样品在高温/高湿和低温条件劣化作用下的耐受性能。

适用范围：本标准规定了高加速寿命试验（Highly Accelerated Life Test，HALT）的一般要求、试验准备和试验方法。 本标准规定的高加速寿命试验，施加的试验应力包括高温步进、低温步进、快速温度变化循环、六自由度非高斯宽带随机振动等应力。 本标准适用于电工电子产品及其电子部件、印制电路板组件等。对于大型整机，宜优先考虑在前端的装配级别（如印制电路板组件、子模块）上进行试验。 本标准还适用于电工电子产品的研发、设计和（或）试产阶段，也可用于批量生产阶段。

适用范围：GB/T 10593的本部分规定了电工电子产品盐雾环境参数（盐雾含量和盐雾沉降率）的采样、分析及计算方法。 本部分适用于使用电工电子产品场所的盐雾环境参数测量。