• 标准状态 
  1. 全部
  2. 现行
  3. 即将实施
  4. 被代替
  5. 废止
  6. 废止转行标
• 发布年份 
  1. 全部
  2. 2026
  3. 2025
  4. 2024
  5. 2023
  6. 2022
  7. 2021及以前

• 现行
  JB/T 9352-1999 透射电子显微镜 试验方法
  译：JB/T 9352-1999 Test method for the transmission electron microscope
  【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1999-08-06 | 实施时间： 2000-01-01
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• 废止
  JB/T 5585-1991 透射电子显微镜 分辨力测试方法
  译：JB/T 5585-1991 Transmission electron microscopy resolution test method
  【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1991-07-16 | 实施时间： 1992-07-01
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• 废止
  JB/T 5586-1991 透射电子显微镜 分类和基本参数
  译：JB/T 5586-1991 Transmission electron microscopy (TEM) classification and basic parameters
  【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1991-07-16 | 实施时间： 1992-07-01
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• 废止
  JB/T 5383-1991 透射电子显微镜 技术条件
  译：JB/T 5383-1991 Transmission electron microscopy technical specifications
  【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器
  发布单位或类别：(CN-JB)行业标准-机械 | 发布时间： 1991-07-10 | 实施时间： 1992-07-01
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