GB/Z 276-2026 光电计算 光脉冲神经元性能测试方法

ICS0104035

CCSL.50.

中华人民共和国国家标准化指导性技术文件

GB/Z276—2026

光电计算光脉冲神经元性能测试方法

Optoelectroniccomputing—Performancetestingmethodforphotonicspikingneurons

2026-09-24发布

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/Z276—2026

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

神经元控制方式

4…………………………1

测试系统

5…………………1

概述

5.1…………………1

技术要求

5.2……………2

环境条件

6…………………2

测试方法

7…………………2

兴奋性阈值

7.1…………………………2

时域累积

7.2……………3

不应期

7.3………………4

测试报告

8…………………4

附录资料性测试报告模板

A()…………5

Ⅰ

GB/Z276—2026

前言

本文件为规范类指导性技术文件

。

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由全国智能计算标准化工作组提出并归口

(SAC/SWG32)。

本文件起草单位西安电子科技大学之江实验室北京航天计量测试技术研究所华中科技大学

:、、、、

杭州爱杰光电科技有限公司上海曦智科技股份有限公司联合微电子中心有限责任公司西南交通

、、、

大学苏州大学电子科技大学甬江实验室南通奇波科技有限公司中移苏州软件技术有限公司

、、、、、()。

本文件主要起草人项水英张萌虞绍良张雅慧李振廷冯宇祥郭星星王忠新董建绩

:、、、、、、、、、

周治平于山山李强张力月李念强江宁施跃春田野张强黄于方英俊杨毅郭良帅

、、、、、、、、、、、、。

Ⅲ

GB/Z276—2026

光电计算光脉冲神经元性能测试方法

1范围

本文件给出了光脉冲神经元的测试系统和测试环境描述了光脉冲神经元的兴奋性阈值时域累积

,、

和不应期特性的测试方法

。

本文件适用于采用半导体材料研制的光脉冲神经元以下简称神经元性能测试

(“”)。

2规范性引用文件

本文件没有规范性引用文件

。

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

。

31

.

光脉冲神经元photonicspikingneuron

模拟生物神经元特性的光电元器件

。

32

.

兴奋性阈值excitabilitythreshold

触发光电元器件产生一个脉冲输出的最小输入光脉冲信号强度

。

33

.

时域累积temporal-integration

光电元器件在一段时间窗口内对连续或先后输入的多个弱光脉冲信号进行能量叠加载流子累

,、

积使总累积量达到兴奋性阈值从而触发一个输出光脉冲的过程

,,。

34

.

不应期refractoryperiod

光电元器件在发放一次光脉冲之后在一段有限的时间内对新的输入光脉冲信号无法再次触发脉

,,

冲输出的这段时间间隔

。

4神经元控制方式

在神经元的电极施加电压电流作为工作点控制信号在光输入端口注入光信号作为神经元的刺

、。

激信号从光输出端口观测神经元对刺激信号的响应

。。

5测试系统

51概述

.

神经元测试系统见图包括光信号输入模块待测光电元器件探测模块驱动控制模块

1,、、、。

1