GB/T 33763-2017 蓝宝石单晶位错密度测量方法
GB/T 33763-2017 Test method for dislocation density of sapphire single crystal
国家标准
中文简体
现行
页数：6页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 33763-2017
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2017-05-31
实施日期
2017-12-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会(SAC/TC 203/SC 2)
适用范围
本标准规定了蓝宝石单晶位错密度的测量方法。
本标准适用于抛光加工后位错密度为0个/cm2～100 000个/cm2的蓝宝石单晶位错密度的测量，检测面为{0001}、{1120}、{1012}、{1010}面。
本标准适用于抛光加工后位错密度为0个/cm2～100 000个/cm2的蓝宝石单晶位错密度的测量，检测面为{0001}、{1120}、{1012}、{1010}面。
发布历史
-
2017年05月
研制信息
- 起草单位：
- 江苏协鑫软控设备科技发展有限公司、中国科学院上海光学精密机械研究所、深圳市中安测标准技术有限公司
- 起草人：
- 薛抗美、黄修康、杭寅、尹继刚、田野、张永波、张毅
- 出版信息：
- 页数：6页 | 字数：10 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS77.040
H25OB
中华人民共和国国家标准
GB/T33763—2017
蓝宝石单晶位错密度测量方法
Testmethodfordislocationdensityofsapphiresinglecrystal
2017-05-31发布2017-12-01实施
发布
GB/T33763—2017
■>r■—>—
刖弓
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)与全国半导体设备和材料标准
化技术委员会材料分会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。
本标准起草单位：江苏协鑫软控设备科技发展有限公司、中国科学院上海光学精密机械研究所、深
圳市中安测标准技术有限公司。
本标准主要起草人:薛抗美、黄修康、杭寅、尹继刚、田野、张永波、张毅。
T
GB/T33763—2017
蓝宝石单晶位错密度测
定制服务
推荐标准
- SH/T 0650-1997 金属保护剂防锈性能试验法(潮湿箱法) 1997-10-27
- GB/T 2951.1-1997 电缆绝缘和护套材料通用试验方法 第1部分：通用试验方法 第1节：厚度和外形尺寸测量——机械性能试验 1997-10-28
- SH/T 0651-1997 重整催化剂锡含量测定法(原子吸收光谱法) 1997-10-27
- SH/T 0649-1997 船用润滑油腐蚀试验法 1997-10-27
- JJG 622-1997 绝缘电阻表(兆欧表) 1997-10-24
- GB/T 17048-1997 架空绞线用硬铝线 1997-10-28
- GB/T 2951.10-1997 电缆绝缘和护套材料通用试验方法 第5部分：填充膏专用试验方法 第1节：滴点——油分离——低温脆性——总酸值——腐蚀性——23℃时的介电常数——23℃和100℃时的直流电阻率 1997-10-28
- GB/T 2951.3-1997 电缆绝缘和护套材料通用试验方法 第1部分：通用试验方法 第3节：密度测定方法——吸水试验——收缩试验 1997-10-28
- GB/T 2951.2-1997 电缆绝缘和护套材料通用试验方法 第1部分：通用试验方法 第2节：热老化试验方法 1997-10-28
- JJG 926-1997 记录式压力表、压力真空表及真空表 1997-10-24