T/CSTM 1772-2026 晶圆级负温度系数(NTC)热敏薄膜的方块电阻及其分布均匀性测试方法

T/CSTM 1772-2026 Test method for the square resistance and uniformity of the negative temperature coefficient (NTC) thermally sensitive thin film on the wafer level

团体标准 中文(简体) 即将实施 页数:0页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
T/CSTM 1772-2026
标准类型
团体标准
标准状态
即将实施
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2026-06-01
实施日期
2026-09-01
发布单位/组织
-
归口单位
中关村材料试验技术联盟
适用范围
-

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研制信息

起草单位:
中国科学院新疆理化技术研究所、中科传感(佛山)科技有限公司、中国计量科学研究院
起草人:
孔雯雯、窦盈莹、常爱民、宋育贤、潘叶、高海弟、孙建平、李旭
出版信息:
页数:- | 字数:- | 开本: -

内容描述

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