T/CSTM 1772-2026 晶圆级负温度系数(NTC)热敏薄膜的方块电阻及其分布均匀性测试方法
T/CSTM 1772-2026 Test method for the square resistance and uniformity of the negative temperature coefficient (NTC) thermally sensitive thin film on the wafer level
团体标准
中文(简体)
现行
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格式：PDF
基本信息
标准号
T/CSTM 1772-2026
标准类型
团体标准
标准状态
现行
发布日期
2026-06-01
实施日期
2026-09-01
发布单位/组织
-
归口单位
中关村材料试验技术联盟
适用范围
-
发布历史
-
2026年06月
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研制信息
- 起草单位：
- 中国科学院新疆理化技术研究所、中科传感(佛山)科技有限公司、中国计量科学研究院
- 起草人：
- 孔雯雯、窦盈莹、常爱民、宋育贤、潘叶、高海弟、孙建平、李旭
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
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