GB/T 14145-1993 硅外延层堆垛层错密度测定 干涉相衬显微镜法
GB/T 14145-1993 Test method for stacking fault density of epitaxial layers of silicon by interference-contrast microscopy
国家标准
中文简体
废止
页数：8页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 14145-1993
标准类型
国家标准
标准状态
废止
发布日期
1993-02-06
实施日期
1993-10-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1993年02月
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- 林敏敏、夏锦禄
- 出版信息：
- 页数：8页 | 字数：6 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- MT 394-1995 呼吸性粉尘测量仪采样效能测定方法 1995-09-28
- MT 426-1995 氯酸盐生氧起动器技术条件 1995-10-05
- MT 162-1995 粉尘采样器通用技术条件 1995-09-28
- MT 393-1995 矿用差压传感器通用技术条件 1995-09-28
- YS/T 92-1995 铝合金花格网 1995-10-04
- MT 424-1995 光干涉式甲烷测定器校准仪通用技术条件 1995-10-05
- MT 423-1995 空气中甲烷校准气体技术条件 1995-10-05
- MT 391-1995 风煤钻技术条件 1995-09-28
- MT 390-1995 矿井压风自救装置技术条件 1995-09-28
- MT 425-1995 隔绝式化学氧自救器 1995-10-05