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T/CVIA 134-2024 半导体激光器器件测试方法

T/CVIA 134-2024 Semiconductor laser device testing method

团体标准 中文(简体) 现行 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
T/CVIA 134-2024
标准类型
团体标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
31.120 电子显示器件
发布日期
2024-05-20
实施日期
2024-05-20
发布单位/组织
-
归口单位
中国电子视像行业协会
适用范围
主要技术内容:本标准规定了半导体激光器器件的测试方法和判定标准

发布历史

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研制信息

起草单位：
青岛海信激光显示股份有限公司、扬州吉新光电有限公司、中国华录集团有限公司、中光学集团股份有限公司、成都菲斯特科技有限公司、青岛海尔多媒体有限公司、四川长虹电器股份有限公司、深圳光峰科技股份有限公司、中山联合光电科技股份有限公司、杭州中科极光科技有限公司、宁波激智科技股份有限公司、极米科技股份有限公司、杭州科汀光学技术有限公司、深圳市火乐科技发展有限公司、上海唯视锐光电技术有限公司、芯鼎微（中山）光电半导体有限公司、艾弗堤西科技(深圳)有限公司、江苏舜合物联网科技有限公司、上海凝汐智能科技发展有限公司
起草人：
周子楠、颜珂、张昕、刘昕、郝亚斌、冯晓曦、彭健锋、董敏、孙阳、马卫华、吴庆富、崔志龙、康健、高丽晶、杨佳翼、李一、毕勇、赵国林、罗廷、金波、陈晓峰、王蔚生、时保华、蔡文海、施耀华、刘丽娜、钟强、刘晨、张利利
出版信息：
页数：- | 字数：- | 开本： -

内容描述

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