JJF 1548-2015 楔形塞尺校准规范

中华人民共和国国家计量技术规范

JJF1548—2015

楔形塞尺校准规范

CalibrationSpecificationforWedge-ShapeFillerGauges

2015-08-24发布2015-11-24实施

国家质量监督检验检疫总局发布

JJF1548—2015

目录

引言

………………………(Ⅱ)

范围

1……………………(1)

引用文件

2………………(1)

概述

3……………………(1)

计量特性

4………………(3)

表面粗糙度

4.1…………(3)

侧边直线度

4.2…………(3)

测量面的平面度

4.3……………………(3)

示值变动性

4.4…………(3)

示值误差

4.5……………(3)

漂移

4.6…………………(3)

校准条件

5………………(3)

环境条件

5.1……………(3)

校准用设备

5.2…………(4)

校准项目和校准方法

6…………………(4)

表面粗糙度

6.1…………(4)

侧边直线度

6.2…………(4)

测量面的平面度

6.3……………………(4)

示值变动性

6.4…………(5)

示值误差

6.5……………(5)

漂移

6.6…………………(6)

校准结果表达

7…………(6)

复校时间间隔

8…………(6)

附录型楔形塞尺示值误差测量结果不确定度评定

AⅠ……………(7)

附录数显楔形塞尺示值误差测量结果不确定度评定

B……………(11)

附录校准证书内容及内页格式

C……………………(15)

Ⅰ

JJF1548—2015

引言

国家计量校准规范编写规则通用计量术语及

JJF1071—2010《》、JJF1001—2011《

定义测量不确定度评定与表示共同构成支撑本校准规范制定

》、JJF1059.1—2012《》

的基础性系列规范本规范主要参考标准为楔形塞尺

。JB/T12202—2015《》。

本规范为首次发布

。

Ⅱ

JJF1548—2015

楔形塞尺校准规范

1范围

本规范适用于分度值为测量范围上限至的型楔形塞

0.05mm、0.1mm,60mmⅠ

尺分度值为测量范围上限至的型楔形塞尺

;0.05mm、0.1mm、0.5mm,15mmⅡ;

分辨力为测量范围上限至的数显楔形塞尺的校准

0.01mm,40mm。

2引用文件

本规范引用了下列文件

:

测量仪器特性评定

JJF1094—2002

楔形塞尺

JB/T12202—2015

凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本规范凡不注日期的引用文件

,;,

其最新版本包括所有的修订单适用于本规范

()。

3概述

楔形塞尺是用于测量间隙和孔径尺寸的量具常见结构型式有型楔形塞尺型

。Ⅰ、Ⅱ

楔形塞尺数显楔形塞尺

、。

型楔形塞尺为楔形薄片状具有锥形角度尺面上有一组有序的标尺标记和标尺

Ⅰ,,

数字标尺数字表示相应标记位置的尺身宽度其结构型式见图

,。1。

型楔形塞尺为楔块状具有楔形角度尺面上有一组有序的标尺标记和标尺数

Ⅱ,,

字标尺数字表示相应标记位置垂直于测量基面的厚度其结构型式见图

,。2。

数显楔形塞尺又称通流间隙测量尺是利用带有数字显示器的移动测量头在尺身上

,

相对运动以数显形式显示移动测量头的端面处垂直于上测量面的楔块厚度其结构型

,。

式见图

3。

(a)

(b)

图型楔形塞尺外形结构示意图

1Ⅰ

侧边尺面标记和标尺数字

1,3—;2—;4—

1

JJF1548—2015

(a)

(b)

图型楔形塞尺外形结构示意图

2Ⅱ

尺面标记和标尺数字测量基面

1—;2—;3—

(a)

(b)

图数显楔形塞尺外形结构示意图

3

上测量面移动测量头数字显示器尺身标尺尺身下测量面

1—;2—;3—;4—;5—;6—

2

JJF1548—2015

4计量特性

表面粗糙度

4.1

型楔形塞尺和型楔形塞尺测量面的表面粗糙度一般不超过Ra数显楔

ⅠⅡ1.6μm,

形塞尺测量面的表面粗糙度一般不超过Ra

0.4μm。

侧边直线度

4.2

型楔形塞尺的侧边直线度一般不大于

Ⅰ0.01mm。

测量面的平面度

4.3

测量面的平面度一般不超过表的规定型楔形塞尺的测量基面只允许呈凹形

1。Ⅱ。

表1测量面的平面度

mm

楔形塞尺名称分度值分辨力测量面的平面度

/

0.050.01

型楔形塞尺

Ⅱ0.10.02

0.50.10

数显楔形塞尺

0.010.005

示值变动性

4.4

数显楔形塞尺的示值变动性一般不超过

0.01mm。

示值误差

4.5

示值最大允许误差一般不超过表的规定

2。

表2最大允许误差

mm

楔形塞尺名称分度值分辨力最大允许误差

/

型楔形塞尺

Ⅰ0.05,0.1±0.05

0.05±0.05

型楔形塞尺

Ⅱ0.1±0.10

0.5±0.20

数显楔形塞尺

0.01±0.03

漂移

4.6

数显楔形塞尺的数字漂移在内一般不大于带有自动关机功能的可不

1h0.01mm,

校准此项

。

注:校准工作不判断合格与否,上述计量特性要求仅供参考。

5校准条件

环境条件

5.1

校准室温度

:(20±5)℃。

3

JJF1548—2015

校准室相对湿度不大于

:70%。

校准前被校楔形塞尺和校准用器具平衡温度时间不少于

,2h。

校准用设备

5.2

校准用设备见表允许使用满足测量不确定度要求的其他测量标准及其他设备进

3。

行校准

。

表3校准项目和校准用设备

序号校准项目设备名称和技术要求

表面粗糙度表面粗糙度比较样块

1MPE:+12%~-17%

侧边直线度等量块级平板

24,1

等量块刀口形直尺塞尺

测量面的平面度4,MPEV:2μm,MPE:±0.005mm,

3级平板

1

示值变动性级量块及量块附件

43

万能工具显微镜-5L级量块及量块附件

示值误差MPEV:1μm+10,3,

5级平板数显千分表

1,MPEV:0.010mm

漂移

6———

6校准项目和校准方法

校准前首先检查外观和各部分相互作用确定没有影响计量特性因素后再进行

。

校准

。

表面粗糙度

6.1

测量面的表面粗糙度用表面粗糙度比较样块进行比较测量进行比较时所用的表

。,

面粗糙度样块和被校测量面的加工方法应相同表面粗糙度样块的材料形状表面色

,、、

泽等也应尽可能与被校测量面一致以相应表面粗糙度比较样块的标称值作为校准值

,。

侧边直线度

6.2

型楔形塞尺的侧边直线度用量块试塞法测量测量时在平板上放置块

Ⅰ。,21mm

的量块将型楔形塞尺两侧边分别贴合在量块上并使尺面与平板保持垂直再用相

,Ⅰ,,

应尺寸的量块在侧边全长范围内进行试塞以试塞时刚好能通过的量块尺寸与的

,1mm

差值作为该位置的测量值所有位置测量值的最大值与最小值的差值为该侧边的直线度

。

测量值取两侧边直线度测量值中的最大值作为直线度校准值

,。

测量面的平面度

6.3

数显楔形塞尺测量面的平面度用刀口形直尺以光隙法测量分别在测量面的长

6.3.1。

边短边和对角线位置上进行其平面度根据各方位的间隙情况确定当所有方位上出

、,。

现的间隙均在中间部位或两端部位时取其中一方位间隙量最大的作为平面度当其中

,。

有的方位中间部位有间隙而有的方位两端部位有间隙则平面度以中间和两端最大间

,,

隙量之和确定

。

4

JJF1548—2015

分度值为的型楔形塞尺测量基面的平面度用量块试塞法测量测量

6.3.20.05mmⅡ。

前先用刀口形直尺观察测量基面的光隙情况将块的量块放置在基面上用刀

,21mm,

口形直尺的工作面轻轻接触量块再用相应尺寸的量块在基面全长范围内进行试塞以

,,

试塞时刚好能通过的量块尺寸与的差值作为该位置的测量值所有位置测量值的

1mm。

最大值与最小值的差值为该基面的平面度校准值

。

分度值为的型楔形塞尺测量面的平面度用塞尺在平板上用

6.3.30.1mm、0.5mmⅡ

试塞法测量将楔形塞尺的测量基面放在级平板上用塞尺在测量基面全长范围内进