GB/T 40675.2-2021 数字器件和设备用噪声抑制片 第2部分：测量方法

ICS29.100.10

CCSL19

中华人民共和国国家标准

/—/:

GBT40675.22021IEC62333-22015

数字器件和设备用噪声抑制片

:

第部分测量方法

2

—

Noisesuressionsheetfordiitaldevicesandeuiment

ppgqp

:

Part2Measurinmethods

g

(:,)

IEC62333-22015IDT

2021-11-26发布2022-06-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—/:

GBT40675.22021IEC62333-22015

目次

前言…………………………Ⅴ

引言…………………………Ⅵ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4通则………………………1

5测试方法…………………2

同侧去耦比:……………………

5.1Rda2

5.1.1原理……………2

5.1.2测试装置………………………3

5.1.3测试样品………………………5

5.1.4步骤……………6

5.1.5测试结果的表述………………7

异侧去耦比:……………………

5.2Rde7

5.2.1原理……………7

5.2.2测试装置………………………8

5.2.3测试样品………………………9

5.2.4步骤……………9

5.2.5测试结果的表述………………9

传输衰减比:……………………

5.3Rt9

p

5.3.1原理……………9

5.3.2测试装置………………………10

5.3.3测试夹具………………………10

5.3.4测试样品………………………11

5.3.5步骤……………11

5.3.6测试结果的表述………………12

辐射抑制比:……………………

5.4Rrs12

5.4.1原理……………12

5.4.2测试装置………………………12

5.4.3测试样品………………………15

5.4.4步骤……………16

5.4.5测试结果的表述………………17

线路去耦比:……………………

5.5Rdl17

Ⅰ

/—/:

GBT40675.22021IEC62333-22015

5.5.1通则……………17

5.5.2原理……………17

5.5.3测试装置………………………18

5.5.4测试样品………………………20

5.5.5步骤……………20

5.5.6测试结果的表述………………21

图天线对及的测试示意图………………………

1NSS2

图天线对及测试状态下的………………………

2NSS3

图环形天线对之间耦合的频率响应……………………

33

图推荐的测试用小型环形天线示例……………………

44

图测试布置剖视图………………………

5