GB/T 7991-2003 搪玻璃层厚度测量 电磁法

ICS71.120.99;25.220.50

G94

中华人民共和国国家标准

GB/T7991-2003

代替GB/T7991-1987

搪玻璃层厚度测量电磁法

Measurementofvitreousandporcelainenamelcoating

thickness-Magneticmethod

I（SO2178：1982，No-magneticecoatingsonmagneticsubstrates

一Measurementofcoatingthickness-Magneticmethod，MOD)

2003-06-16发布2004-01-01实施

中华人民共和国发布

国家质量监督检验检疫总局

GB/T7991-2003

．．‘～

前曰

本标准修改采用ISO2178:1982((磁性金属基体上的非磁性涂层厚度的测定磁性测量法》英（

文版）。

本标准根据ISO2178:1982重新起草。

本标准在采用ISO2178:1982时，依据搪玻璃设备的特点和磁性测厚仪目前的技术水平进行了修

改。有关技术性差异已编人正文中并在它们所涉及的条款的页边空白处用垂直单线标识。在附录A

中给出了技术性差异及其原因一览表，以供参考。

为便于使用，对于ISO2178:1982本标准还做了下列编辑性修改：

a)“本国际标准”一词改为“本标准”；

b)删除ISO2178:1982的前言；

c）将一些适用于国际标准的表述改为适用于我国标准的表述。

本标准代替GB/T7991-1987搪《玻璃层的厚度测量电磁法》。

本标准与GB/T7991-1987相比主要有以下不同：

—删除了GB/T7991-1987的第1章“定义”；

—依据ISO2178:1982，增加了本标准第3章中的3.6,3.7,3.8,3.10,3.12，第4章中的4.2,

4.3.1A.3.4，第5章中的5.3,5.5,5.6,5.7,5.8,5.9,5.10,

本标准的附录A为资料性附录。

本标准由中国石油和化学工业协会提出。

本标准由全国搪玻璃设备标准化技术委员会归口。

本标准起草单位：天华化工机械及自动化研究设计院、淄博工业搪瓷厂、山东济宁超声电子仪器厂、

沈阳市东华检测仪器厂。

本标准主要起草人：桑临春、沙庆谦、张品、杨长明、梁彩霞。

本标准所代替标准的历次版本发布情况为：

—GB/T7991一1987。

GB/T7991-2003

搪玻璃层厚度测f电磁法

范围

本标准适用于用电磁法测量磁性基体上的搪玻璃层厚度的方法。

2原理

用电磁法测量通过硬盖层与基体金属磁路磁阻的变化而得到被盖层的厚度。

3影晌侧f精度的因素

3.1摘玻劝层厚度

搪玻璃层厚度的变化会影响测量精度，与所选用的仪器有关。对薄的搪玻璃层这个精度是一个常

数值，与厚度无关；对于厚的搪玻璃层，其精度随搪玻璃层厚度的增加有所降低。

3.2甚体金目的磁性

磁性侧厚仪受墓