SJ 2757-1987 重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法
SJ 2757-1987 Method of measurement by infra-red reflection for charge carrier concentraiton of heavily doped semiconductors
行业标准-电子
中文(简体)
现行
页数：5页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ 2757-1987
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
1987-02-10
实施日期
1987-07-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
1987年02月
研制信息
- 起草单位：
- -
- 起草人：
- -
- 出版信息：
- 页数：5页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
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