1. 当前位置：
  2. 首页 >
  3. 行业标准 >
  4. QJ 1239.5-1987

QJ 1239.5-1987 电子设备环境试验条件和方法 低气压试验

QJ 1239.5-1987 Low-pressure test for electronic equipment environment conditions and methods

行业标准-航天 中文(简体) 现行 页数：5页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
QJ 1239.5-1987
标准类型
行业标准-航天
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
V06 环境条件
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
1987-07-02
实施日期
1988-10-01
发布单位/组织
-
归口单位
-
适用范围
-

发布历史

文前页预览

QJ 1239.5-1987 电子设备环境试验条件和方法 低气压试验-第1页

研制信息

起草单位：
-
起草人：
-
出版信息：
页数：5页 | 字数：- | 开本： -

内容描述

暂无内容

定制服务

    推荐标准

    关联标准

    同系列标准
    QJ 1239 第1部分
    QJ 1239.1-1987 电子设备环境试验条件和方法 总则
    第1部分 现行
    QJ 1239 第2部分
    QJ 1239.2-1987 电子设备环境试验条件和方法 高温试验
    第2部分 现行
    QJ 1239 第3部分
    QJ 1239.3-1987 电子设备环境试验条件和方法 低温试验
    第3部分 现行
    QJ 1239 第4部分
    QJ 1239.4-1987 电子设备环境试验条件和方法 温度变化试验
    第4部分 现行
    QJ 1239 第7部分
    QJ 1239.7-1987 电子设备环境试验条件和方法 砂尘试验
    第7部分 现行
    QJ 1239 第8部分
    QJ 1239.8-1987 电子设备环境试验条件和方法 湿热试验
    第8部分 现行
    QJ 1239 第9部分
    QJ 1239.9-1987 电子设备环境试验条件和方法 霉菌试验
    第9部分 现行
    QJ 1239 第10部分
    QJ 1239.10-1987 电子设备环境试验条件和方法 盐雾试验
    第10部分 现行
    QJ 1239 第11部分
    QJ 1239.11-1987 电子设备环境试验条件和方法 振动试验
    第11部分 现行
    QJ 1239 第12部分
    QJ 1239.12-1987 电子设备环境试验条件和方法 噪声试验
    第12部分 现行
    QJ 1239 第13部分
    QJ 1239.13-1987 电子设备环境试验条件和方法 冲击试验
    第13部分 现行
    QJ 1239 第14部分
    QJ 1239.14-1987 电子设备环境试验条件和方法 加速度试验
    第14部分 现行

    相似标准推荐

    更多>