GB/T 17554.7-2010 识别卡 测试方法 第7部分：邻近式卡

ICS35.240.15

L64

中华人民共和国国家标准

/—

GBT17554.72010

识别卡测试方法

:

第部分邻近式卡

7

国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

——

IdentificationcardsTestmethods

:

Part7Vicinitcards

y

(/:,)

ISOIEC10373-72008MOD

2010-12-01发布2011-04-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—

GBT17554.72010

目次

前言…………………………Ⅰ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

、

3术语和定义缩略语和符号………………1

4适用于测试方法的默认条款……………2

5静电测试…………………2

6测试装置和测试电路……………………3

7VICC的功能测试………………………6

8VCD的功能测试…………………………7

9VICC的工作场强测试…………………8

()

附录A规范性附录测试VCD天线……………………9

()

附录B资料性附录测试VCD天线调谐……………11

()

附录C规范性附录传感线圈…………13

()

附录D规范性附录用于VCD功率测试的参考VICC……………15

()

附录E资料性附录用于负载调制测试的参考VICC………………17

()

附录F资料性附录频谱计算程序……………………18

国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

/—

GBT17554.72010

前言

/《》,:

在识别卡测试方法总标题下目前分为如下个部分

GBT175547

———:;

第部分一般特性测试

1

———:;

第部分磁条卡

2

———:;

第部分带触点的集成电路卡及其相关接口设备

3

———:;

第部分无触点集成电路卡

4

———:;

第部分光记忆卡

5

———:;

第部分接近式卡

6

———:。

第部分邻近式卡

7

/。,/

本部分为的第部分本部分使用重新起草法修改采用国际标准

GBT175547ISOIEC10373-

:《:》()。

识别卡测试方法第部分邻近式卡英文版

720087

/:,,

本部分与ISOIEC10373-72008相比增加和修改了下列内容并在相应条款的外侧页边空白处

用单垂线标示:

),;

a为了使标准更加清晰易懂增加了缩略语PCB

)为了便于引用,做了编辑性修改;

b8.1.2

),

为了避免实际应用中可能出现在规定的工作区域内不能正常工作的情况增加第章

cVICC9

工作场强测试。

国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

本部分的附录、附录和附录是规范性附录。

ACD

本部分的附录、附录和附录是资料性附录。

BEF

Ⅰ

/—

GBT17554.72010

识别卡测试方法

:

第部分邻近式卡

7

1范围

//。

GBT17554规定了符合GBT14916识别卡特性的测试方法每一测试方法交叉引用一个或多

,/

个基础标准这些基础标准可以是GBT14916或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术

的补充标准。

注:,。

1接收准则不包含在本部分中而是在以上提及的国家标准中

:/。。

注2GBT17554描述的若干测试方法可单独实施规定的卡不要求顺序地通过所有测试

/()。

的本部分规定了无触点集成电路卡技术邻近式卡的测试方法第部分规定了为

GBT175541

;。

一种或多种卡技术所共用的测试方法其他部分则规定了各个专项技术的测试方法

,//。

除非另有规定本部分中的测试仅适用于和中定义的邻近式卡

GBT22351.1GBT22351.2

2规范性引用文件

/。

下列文件中的条款通过GBT17554的本部分的引用而成为本部分的条款凡是注日期的引用文

,(),,

件其随后所有的修改单不包括勘误的内容或修订版均不适用于本部分然而鼓励根据本部分达成协

。,。

议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件其最新版本适用于本部分

/识别卡物理特性(/—,/:,)

GBT14916GBT149162006ISOIEC78102003IDT

/国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页(/—,

电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验

GBT17626.2GBT17626.22006

:,)

IEC61000-4-22001IDT

/:(/—

识别卡无触点集成电路卡邻近式卡第部分物理特性

GBT22351.11GBT22351.1

,/:,)

2008ISOIEC15693-12000IDT

/—:

识别卡无触点集成电路卡邻近式卡第部分空中接口和初始化

GBT22351.220102

(/:,)

ISOIEC15693-22000IDT

/:议

识别卡无触点集成电路卡邻近式卡第部分防冲突和传输协

GBT22351.33

(/—,/:,)

GBT22351.32008ISOIEC15693-32001IDT

对度量不确定性表达的指南,,版

ISBN92-67-10188-9ISO1993

、

3术语和定义缩略语和符号

3.1术语和定义

下列术语和定义适用于本部分。

3.1.1

基础标准basestandard

利用测试方法验证所要符合的标准。

3.1.2

预期操作oerateasintended

p

,/

经受了某些潜在破坏性影响作用后卡上的任何集成电路仍然继续保持了符合GBT22351.3基

1

础标准的操作和响应。

:,。

注若同一张卡上存在其他的技术则这些技术根据各自的标准也应具有可预期的操作

。。,

1本部分并不定义集成电路卡的完整功能测试这些测试方法仅要求验证最小功能在适合的情况下可以进一

,。

步补充应用特定功能准则这些准则在一般情况下是用不到的

1

/—

GBT17554.72010

3.1.3

测试方法testmethod

为了验证识别卡符合标准而对其特征进行测试的方法。

3.2缩略语和符号

DUT被测设备

ESD静电放电

c工作场频率

f

,副载波频率

s1s2

ff

Hmax最大VCD场强

Hmin最小VCD场强

VCD邻近式耦合设备

VICC邻近式卡

PCB印制电路板

4适用于测试方法的默认条款

4.1测试环境

,。

除非另有规定测试应在温度为23℃±3℃和相对湿度为40%~60%的环境下进行

4.2预处理

,。

若测试方法要求预处理在测试前应将待测试的识别卡在测试环境中放置24h

4.3默认容差

,,(,)

除非另有规定默认容差为±5%应适用于所给出的量值以规定测试设备的特性例如线性尺寸

国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

(,)。

和测试方法规程例如测试设备校准

4.4寄生电感

电阻器和电容器具有可以忽略的电感。

4.5总度量的不确定性

测试方法所决定的每个量的总度量不确定性应在测试报告中予以说明。

ISBN92-67-10188-9,,版中给出了对度量不确定性表达的基本信息。

ISO1993

5静电测试

()。(

本测试的目的是检验经过ESD静电放电测试后VICC的行为被测VICC经受模拟的ESD人

),。

体模型基本操作如图所示

1

图1ESD测试电路

2

/—

GBT17554.72010

5.1仪器

见/。

GBT17626.2

)发生器的主要规格:

aESD

———储能电容器:;

150F±10%

p

———放电电阻器:;

330Ω±10%

———充电电阻器:之间;

50MΩ~100MΩ

———上升时间:。

0.7ns~1ns

)选定任选项的规范:

b

———:;

设备的类型台式设备

———:;

放电方法直接空气放电到被测设备

———:()。

ESD发生器放电极直径8mm的圆头探针避免弄破卡的表面标记层

5.2规程

按照/的规定连接测试装置。

GBT17626.2

将仪器的接地插针连接到放置VICC的导电平板上。

。。

以正极性对如图所示的个测试区的各个区依次放电再以相反的极性重复此过程允许至

220

少10s的连续脉冲间的冷却周期。

:,。

警告如果VICC带有触点则该触点的正面朝上并且触点所在的区应不被放电

测试结束后检验VICC能否按预期操作。

国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

图上测试区

2VICCESD

5.3测试报告

测试报告应说明VICC是否可以按预期操作。

6测试装置和测试电路

6.0综述

,/。

本章定义了测试装置和测试电路以便按照GBT22351.2验证VICC或者VCD的操作

测试装置包括:

)();

a校准线圈见6.1

3

/—

GBT17554.72010

)();

b测试VCD装置见6.2

)();

参考见

cVICC6.3

)()。

d数字示波器见6.4

6.1校准线圈

、。

本条定义了校准线圈的尺寸厚度和特性

6.1.1校准线圈卡的尺寸

/,

校准线圈卡应由具有GBT14916定义的ID-1型卡高度和宽度构成的一个区域组成并包含了与

()。

卡轮廓线同轴的单匝线圈见图3

图校准线圈

3

6.1.2校准线圈卡的厚度和材料

国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

,。

校准线圈卡的厚度应为0.76mm±10%它应采用一种适合的绝缘材料

6.1.3线圈特性

。,。相对尺

校准线圈卡上的线圈应有匝线圈的外尺寸应为转角半径为5mm

172mm×42mm

寸容差应为±2%。

2

注1:线圈面积大约3000mm。

,。

该线圈在PCB上制作成印制线圈铜线厚度为35m

μ

印制线宽度应为,。

500m相对容差为±20%

μ

连接焊点尺寸应为1.5mm×1.5mm。

:,,。

注在条件下电感近似为电阻近似为

213.56MHz200nH0.25Ω

(:,)()(、

高阻抗示波器探针如>1MΩ<14F用来测量线圈上的感应电压开路校准线圈连接导线

p

和示波器探针的谐振频率应在60MHz以上)。

:。

注一个小于的探针寄生电容通常可保证大于的谐振频率

335F60MHz

p

()/()[()/()]。

线圈的开路校准因子为0.32VrmsAmrms相当于900mV峰峰值每Amr

ms

6.2测试VCD装置

:

负载调制测试用的仪器应由直径的天线和两个平行的传感线圈组成线圈和线圈

150mmVCDa

,。,。

如图所示连接时使得一个线圈的感应信号与另一个线圈的感应信号相位相反当传感线圈不

b4

,。(

被或者任何磁性耦合电路加载时电位器用来微调平衡点探针的电容负载包括它的

VICC10ΩP1

)。

寄生电容应不超过14F

p

4

/—

GBT17554.72010

图测试装置

4

/,。

考虑比ISOIEC10373-6更宽的传感线圈间隔双绞线的最大长度应不超过150mm

,。如果

为了避免装置不对称而额外带来的调谐不准的现象出现电位器P1的调谐范围为10Ω

,。

的电位器不能补偿装置这一缺陷那么应对整个装置的对称性进行校对

10ΩP1

,。

为了达到很好的再现性接触点和示波器探针的电容应保持在最小

国家标准ㅤ可打印ㅤ可复制ㅤ无水印ㅤ高清原版ㅤ去除空白页

高阻抗示波器探针的接地线应小于20mm或者同轴连接。

6.2.1测试VCD天线

,。

测试天线直径为其结构应符合附录中的所有图示天线调谐可由附录给出的

VCD150mmAB

规程完成。

6.2.2传感线圈

传感线圈的尺寸应为。传感线圈的结构应符合附录中的所有图示。

100mm×70mmC

6.2.3测试VCD装置

,,

传感线圈和测试VCD天线应平行地进行组合同时传感线圈和天线线圈同轴并且使得两个起作用

,。。

的导体之间的距离为如图所示线圈和校准线圈到测试天线线圈的距离应相等

100mm5DUTVCD

注:的距离反映了较大的读取距离,空隙避免了如近距离去谐或者不明原因引起的噪声所带来的寄

100mm3mm

生影响以及其他环境的影响。

图测试装置

5VCD

5

/—

GBT17554.72010

6.3参考VICC

定义参考VICC用来测试:

)();

aVCD产生的Hmin和Hmax在VICC加载的状态下

)把功率供给的能力;

bVCDVICC

)检测来自的最小负载调制信号。

cVICC

6.3.1用于VCD功率测试的参考VICC

,、,

用于功率测试的参考示意图在附录中示出功耗可分别由电阻器设置按照

VCDVICCDRR

12

中定义测量和。谐振频率可用来调整。

8.1.2HHC

maxmin2

6.3.2用于负载调制测试的参考VICC

。。

负载调制测试的示意图在附录中示出负载调制可被选择为阻性调制或者容性调制

E

,:

通过使用测试VCD装置来校准参考VICC如下

。,,

参考VICC放置在DUT的位置上用7.2所述方法测量负载调制信号幅值这