T/QGCML 4791-2024 半导体薄膜沉积 技术要求

T/QGCML 4791-2024

团体标准 中文(简体) 现行 页数:0页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
T/QGCML 4791-2024
标准类型
团体标准
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
-
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2024-10-17
实施日期
2024-11-01
发布单位/组织
-
归口单位
全国城市工业品贸易中心联合会
适用范围
主要技术内容:本文件规定了半导体薄膜沉积 技术要求的术语和定义、基本要求、在线监测、质量控制、检验方法。本文件适用于半导体薄膜沉积 技术要求的设计和检验

发布历史

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研制信息

起草单位:
江苏中芯沃达半导体科技有限公司、深圳市兆兴博拓科技股份有限公司、深圳市富尧科技有限公司、珠海市奔荣电子电路有限公司
起草人:
申学礼、靳振岗、张彩琴、姜锐、吕义山
出版信息:
页数:- | 字数:- | 开本: -

内容描述

暂无内容

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