JJF 1760-2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范
JJF 1760-2019 Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
国家计量技术规范JJF
中文简体
现行
页数：28页
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格式：PDF
基本信息
发布历史
-
2019年09月
文前页预览
研制信息
- 起草单位：
- 中国计量科学研究院
- 起草人：
- 高英、李兰兰
- 出版信息：
- 页数：28页 | 字数：44 千字 | 开本： 大16开
内容描述
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