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T/BDT 003-2024 高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备

T/BDT 003-2024 High-speed analog-to-digital converter (ADC) test equipment

团体标准 中文(简体) 现行 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
T/BDT 003-2024
标准类型
团体标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
25.040.01 工业自动化系统综合
发布日期
2024-10-09
实施日期
2024-10-10
发布单位/组织
-
归口单位
中国半导体行业协会
适用范围
范围:本文件规定了高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本文件适用于高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的设计、制造和检验; 主要技术内容:同时支持LVDS、204B等数字接口，支持SPI、I2C等协议，支持采样率不高于12.5Gbps的全自动ADC芯片测试机。其SNR、SINAD指标可满足市面上绝大多数芯片的测试需求。通过自研INL、DNL算法，使得在测试上具有更高的效率以及更低的门槛。对于高精度的ADC芯片，动态性能指标的测试稳定性也有明显优势

发布历史

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研制信息

起草单位：
南京派格测控科技有限公司、南京国博电子股份有限公司、无锡卓海科技股份有限公司、宏晶微电子科技股份有限公司、无锡邑文电子科技有限公司、成都市易冲半导体有限公司、弥费科技（上海）股份有限公司、江苏宝浦莱半导体有限公司、深圳前沿标准技术服务有限公司
起草人：
胡信伟、李翔、侯林、张宇、孙文彬、刘伟、高召、相宇阳、汤琦、周燕、张宏达、何睿、缪峰、顾宝龙
出版信息：
页数：- | 字数：- | 开本： -

内容描述

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