GB/T 18735-2014 微束分析 分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范

ICS71.040.50

G04百目

中华人民共和国国彖标准

GB/T18735—2014

代着GB/T18735—2002

微束分析分析电镜(AEM/EDS)

纳米薄标样通用规范

Microbeamanalysis—Generalguideforthespecificationofnanometerthin

referencematerialsforanalyticaltransmissionelectronmicroscope(AEM/EDS)

2014-07-24发布2015-03-01实施

GB/T18735—2014

目次

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引言n

1范围1

2规范性引用文件1

3术语和定义1

4薄标样的技术要求2

5研究材料的检测3

5.1检测仪器3

5.2样品台3

5.3测量条件与方法3

5.4薄标样判別依据4

6标样的分级4

6.1薄标样化学成分的测定4

6.2薄标样级別的确定4

7包装与贮运4

7.1标样包装4

7.2运输4

7.3保管5

7.4标样的有效期5

参考文献6

GB/T18735—2014

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刖吕

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。

本标准代替GB/T18735—2002《分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样通用规范》。

本标准与GB/T18735—2002相比主要变化如下：

一中英文名称修改为：“微束分析分析电镜（AEM/EDS）纳米薄标样通用规范”和“Microbea

ananlysis—Generalguideforthespecificationofnanometerthinreferencematerialsforana­

lyticaltransmissionelectronmicroscope（AEM/EDS）"；

——修改了适用范围的内容（见第1章）；

——更新和增加了引用标准（见第2章）；

—增加和修改了术语和定义，将公式和原理放在术语下面的注释中进行表述（见第3章）；

——将“标样”改为“薄标样”（见第4章、第5章）；

——修改了薄标样化学定值和薄标样个数的要求（见4.1、4.2）；

——增加了对薄标样的厚度要求的说明和计算例证的注释（见4.3）；

——增加了对薄标样稳定性要求的说明性注释（见4.4）；

——将“碳膜支持网”修改为“超薄碳膜支持网”（见4.5）;

—增加了“检测仪器”和'样品台”次级标题（见5.1、5.2）；

——将“试样”修改为“研究材料”（见5.1、5.2、5.3.4）；

——增加了分析时常用的几个典型工作电压值（见5.3.1）；

-修改了测量样品个数和待测元素X射线强度统计测量的要求（见5.3.3,5.3.5和5.3.8）；

——增加了比例因子测量时参考元素的说明性注释（见5.3.6）；

-修改和增加了比例因子Ka一b的扩展不确定度和不确定度及相应的注释（见5.3.8和5.3.9）；

——修改了薄标样的判别依据（见5.4）；

——增加了标样的分级（见第6章）；

——增加了有助于理解本标准的必要的参考文献。

本标准由全国微束分析标准化技术委员会（SAC/TC38）提出并归口。

本标准起草单位：武汉理工大学。

本标准主要起草人:孙振亚。

本标准于2002年12月首次发布，本次为第一次修订。

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GB/T18735—2014

引言

本标准规定的各项准则，主要适用于分析电镜，即配备X射线能谱仪附件的透射电子显微镜

(AEM/EDS)依据比值法即Cli££-Lorimer法，在可以忽略试样基体的X射线吸收效应进行无机薄样品

元素定量分析时，测量比例因子Ka一b所需纳米薄标样的通用规范和检测方法的一般原则。为进一步

制定AEM的定量分析方法标准奠定基础。

本标准对于开展微粒和微区样品的分析电镜的元素定量分析，特别是适应迅速发展的纳米材料的

成分定量分析和高加速电压分析型透射电镜的发展，建立基于标准样品的比较定量分析方法，提高定量

分析准确度具有积极的指导作用.

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