DB34/T 1750-2012 电容式触摸屏
DB34/T 1750-2012 Capacitive touch screen
基本信息
发布历史
-
2012年12月
研制信息
- 起草单位:
- 晟光科技股份有限公司、国家特种玻璃质量监督检验中心。
- 起草人:
- 朱军、肖新煌、孙凯、翁红亮、鲁佳、马付才、舒振华。
- 出版信息:
- 页数:11页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
ICS31.120
L47
DB34
安徽省地方标准
DB34/T1750—2012
电容式触摸屏
Capacitivetouchpanel
2012-12-24发布2013-01-24实施
安徽省质量技术监督局发布
DB34/T1750—2012
前言
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。
本标准由蚌埠市质量技术监督局提出。
本标准起草单位:晟光科技股份有限公司、国家特种玻璃质量监督检验中心。
本标准主要起草人:朱军、肖新煌、孙凯、翁红亮、鲁佳、马付才、舒振华。
I
DB34/T1750—2012
电容式触摸屏
1范围
本标准规定了电容式触摸屏的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、标签、包装、运输
和贮存。
本标准适用于以钢化玻璃为主要原料,经黄光蚀刻等工艺制成的双面ITO或单面ITO的电容式触
摸屏(以下简称触摸屏)。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
电容式触摸屏
在钢化玻璃表面贴上几层复合的透明的特殊导电物质,经黄光蚀刻等工艺制成的该产品。用手指触
摸在导电层时,触点的电容就会发生变化,使触摸屏与之相连的振荡器频率发生变化,通过测量频率变
化可以确定触摸位置,获得该触点的信息。
3.2
ITO:英文为Indiumtinoxide,
一种N型氧化物半导体,化学名称为氧化铟锡。
3.3
双面ITO:简称DITO
在基板玻璃的两面都镀有ITO,通过特定图案,实现一面ITO为发射极,另一面ITO为接收极。
3.4
单面ITO:简称SITO
在基板玻璃的两面都镀有ITO,通过特定图案和额外的桥式镀膜金属,发射极和接收极在同一层
ITO,玻璃另一面ITO只起屏蔽作用。
1
DB34/T1750—2012
3.5
触摸变化量
人体手指触摸触摸屏时,导致触摸屏表面的传感器采样数据的变化,触摸前后的差称为触摸变化量。
3.6
传感器采样数据
触摸屏传感器是通过ITO实现的基准电容,人体手指靠近触摸屏会导致基准电容的的变化,触摸
控制单元通过A/D对传感器采样,将基准电容转化为可量化的数值。
4要求
4.1外观要求
见表1。
表1外观要求
项目技术指标允许值
0.20mm<直径≤0.60mm允许4个
触摸屏表面点状的异物、气泡、凹痕、刺伤
直径>0.60mm不允许
宽度≤0.03mm不计
触摸屏表面划伤、线状异物0.03mm<宽度≤0.10mm,长度≤10.00mm允许3个
宽度>0.10mm或长度>10.00mm不允许
宽度≤1.00mm,且长度≤1.00mm不计
定制服务
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