T/ZZB Q063-2022 半导体器件间歇工作寿命试验设备

T/ZZB Q063-2022 Semiconductor device intermittent operation life test equipment

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基本信息

标准号

T/ZZB Q063-2022

标准类型

团体标准

标准状态

现行

中国标准分类号（CCS）

L87 电子试验用仪器设备

国际标准分类号（ICS）

17.040.30 测量仪器仪表

发布日期

2022-10-14

实施日期

2022-10-20

发布单位/组织

归口单位

浙江省质量协会

适用范围

主要技术内容:本文件规定了半导体器件间歇工作寿命试验设备（以下简称寿命试验设备）的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标志、使用说明书、包装、运输和贮存。本文件适用于验证Si\GaN\SiC材料任意封装的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT等半导体功率器件的使用寿命，进行加速失效分析间歇工作寿命的试验设备

发布历史

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研制信息

起草单位：: 杭州高坤电子科技有限公司、深圳基本半导体有限公司、浙江大学电气工程学院、士兰微电子股份有限公司、捷捷半导体有限公司、上海季丰电子股份有限公司、北京中科新微特科技开发股份有限公司、杭州电子科技大学、中国计量大学

起草人：: 胡久恒、代凯旋、周恺超、史少礼、许静、连加俤、和巍巍、罗皓泽、钱清友、邹光炜、潘子升、夏姚忠、丁兆达、王永乐、李俊

出版信息：: 页数：- | 字数：- | 开本： -

内容描述

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