JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则
JY/T 0584-2020 Scanning electron microscopy analysis method general principles
行业标准-教育
简体中文
现行
页数:0页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
JY/T 0584-2020
标准类型
行业标准-教育
标准状态
现行
发布日期
2020-09-29
实施日期
2020-12-01
发布单位/组织
教育部
归口单位
-
适用范围
-
发布历史
-
2020年09月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位:
- 起草人:
- 出版信息:
- 页数:- | 字数:- | 开本: -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- SHS 01002-2004 石油化工设备润滑管理制度 2004-06-21
- JB/T 6805-2008 压力表接点装置 技术条件 2008-02-01
- HB 3168-1979 浇口套 1980-01-07
- HB 2501-1977 管子夹紧器 1977-10-01
- HG/T 2970-2009 工业用三氯化磷 2009-12-04
- QJ 1011-1986 地空导弹武器系统环境条件设计规范 1987-06-30
- SJ 2743-1987 电源用磁性氧化物磁芯(EC-磁芯)的尺寸 1987-01-09
- QJ 1520A-1996 导弹、运载火箭、卫星发射场合练大纲技术要求 1996-04-19
- HB 4393-1989 活动手柄 1990-04-11
- JB/T 5271-1991 Y系列(IP23)三相异步电动机技术条件(机座号码160~280) 1991-06-28