SJ/T 11820-2022 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法

SJ/T 11820-2022 Semiconductor discrete device DC parameter testing equipment technical requirements and measurement methods

行业标准-电子 简体中文 现行 页数:0页 | 格式:PDF

基本信息

标准号
SJ/T 11820-2022
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号(CCS)
国际标准分类号(ICS)
发布日期
2022-10-20
实施日期
2023-01-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
全国电子测量仪器标准化技术委员会
适用范围
适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过 0.01 V~5 000 V,直流电流输出和直流电流测量范围不超过 1 nA~10 A,脉冲电流输出和脉冲电流测量范围不超过 10 A~1 200 A 的分立器件测试设备

发布历史

文前页预览

当前资源暂不支持预览

研制信息

起草单位:
中国电子技术标准化研究院、深圳市施罗德工业集团有限公司
起草人:
刘冲、李洁、张珊 等
出版信息:
页数:- | 字数:- | 开本: -

内容描述

暂无内容

定制服务

    推荐标准

    相似标准推荐

    更多>