JJF 2251-2025 波长色散X射线荧光光谱仪校准规范

中华人民共和国国家计量技术规范

JJF2251—2025

波长色散X射线荧光光谱仪校准规范

CalibrationSpecificationforWavelengthDispersive

X-RayFluorescenceSpectrometers

2025-06-11发布2025-12-11实施

国家市场监督管理总局发布

JJF2251—2025

波长色散X射线荧光

光谱仪校准规范JJF2251—2025

代替JJG810—1993

CalibrationSpecificationforWavelength

DispersiveX-RayFluorescenceSpectrometers

归口单位全国环境化学计量技术委员会

:

主要起草单位中国计量科学研究院

:

参加起草单位江苏天瑞仪器股份有限公司

:

上海市计量测试技术研究院

本规范委托全国环境化学计量技术委员会负责解释

JJF2251—2025

本规范主要起草人

:

冯流星中国计量科学研究院

()

史乃捷中国计量科学研究院

()

参加起草人

:

黄冲江苏天瑞仪器股份有限公司

()

马联弟中国计量科学研究院

()

黄薇上海市计量测试技术研究院

()

JJF2251—2025

目录

引言

………………………(Ⅱ)

范围

1……………………(1)

引用文件

2………………(1)

术语和计量单位

3………………………(1)

概述

4……………………(1)

计量特性

5………………(2)

校准条件

6………………(3)

实验室环境条件

6.1……………………(3)

国家有证标准物质

6.2…………………(3)

其他

6.3…………………(3)

校准项目和校准方法

7…………………(3)

校准前准备

7.1…………(3)

精密度

7.2………………(3)

灵敏度

7.3………………(4)

探测器能量分辨率

7.4…………………(5)

计数线性

7.5……………(5)

稳定性

7.6………………(6)

校准结果表达

8…………(6)

复校时间间隔

9…………(7)

附录校准原始记录参考格式

A………(8)

附录校准证书内页参考格式

B()…………………(10)

附录灵敏度的不确定度评定示例

C…………………(12)

Ⅰ

JJF2251—2025

引言

国家计量校准规范编写规则通用计量术语及

JJF1071—2010《》、JJF1001—2011《

定义测量不确定度评定与表示共同构成支撑本规范制修订工

》、JJF1059.1—2012《》

作的基础性系列规范

。

本规范是对波长色散射线荧光光谱仪检定规程的修订在修订

JJG810—1993《X》。

过程中参考了铁矿石波长色散射线荧光光谱仪精密

,ISO/TR18231:2016(E)《X

度测量

》(Ironores—WavelengthdispersiveX-rayfluorescencespectrometers—Determination

文件中的部分内容

ofprecision)。

与相比除编辑性修改外主要技术内容变化如下

JJG810—1993,,:

将检定规程修改为校准规范

———;

修订了精密度探测器能量分辨率计数线性稳定性的技术指标及校准方法

———、、、

见第章和

(57.2、7.4、7.5、7.6);

增加了灵敏度技术指标及校准方法见第章和

———(57.3);

删除了接地冷却水湿度射线计数率技术指标及检定方法等

———“”“”“”“X”

项目

。

本规范的历次版本发布情况为

:

———JJG810—1993。

Ⅱ

JJF2251—2025

波长色散X射线荧光光谱仪校准规范

1范围

本规范适用于顺序扫描型和同时多道型波长色散射线荧光光谱仪的校准

X。

2引用文件

本规范引用下列文件

:

分析仪器性能测定术语

GB/T32267—2015

凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本规范凡是不注日期的引用文

,;

件其最新版本包括所有的修改单适用于本规范

,()。

3术语和计量单位

下列术语和定义适用于本规范

。

探测器能量分辨率

3.1energyresolutionofdetector

探测器的脉冲幅度分布曲线的能量峰半高宽与能量峰值电压之比值

。

[GB/T32267—2015,5.4]

探测器的计数线性

3.2linearityofdetector

光谱仪探测器在检测射线强度与探测器计数率在一定的计数范围内的相关性

X。

计数率

3.3countingrate

探测器每秒接收到的光子数量单位为计数秒

,/(countspersecond,CPS)。

4概述

波长色散射线荧光光谱仪以下简称光谱仪用于块状粉末或液体物质的元

X(),、

素分析其测定范围为质量分数工作基本原理是射线管发出

,0.0001%~100%()。X

的初级射线激发样品中的原子内层电子跃迁产生空穴外层轨道电子填补这一空穴

X,

时产生特征射线荧光通过晶体分光并用探测器对特征射线进行测量根据各种

X,X,

元素特征射线的波长和强度进行元素的定性和定量分析

X。

光谱仪的基本结构示意如图所示

1。

1

JJF2251—2025

图波长色散射线荧光光谱仪的基本结构示意图

1X

射线光管滤光片样品第一准直器测角仪晶体

1—X;2—;3—;4—;5—;6—;

第二准直器流动气体正比计数器闪烁计数器

7—;8—;9—;

多道脉冲分析器控制显示记录和数据处理系统

10—;11—、、

5计量特性

光谱仪计量特性见表

1。

表1光谱仪的校准项目和技术指标

序号校准项目技术指标

精密度

1≤0.2%

-1-1

Si:≥0.01kCPS·(mg/g)·mA

灵敏度-1-1

2P:≥0.01kCPS·(mg/g)·mA

-1-1

Ni:≥0.02kCPS·(mg/g)·mA

顺序扫描型

≤43%(AlKα)

流动气体正比计数器①

同时多道型λ

λ

≤43%Al

探测器能

顺序扫描型

3量分辨率≤63%(CuKα)

闪烁计数器①

同时多道型λ

λ

≤63%Cu

封闭气体正比计数器不大于光谱仪出厂指标值的倍

1.3

计数线性电流和计数率的线性相关系数

4≥0.9995

稳定性

5≤0.06%

①λ为分析谱线的波长以