GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
GB/T 43226-2023 Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
国家标准
中文简体
现行
页数：8页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
GB/T 43226-2023
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
适用范围
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
发布历史
-
2023年09月
研制信息
- 起草单位：
- 北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
- 起草人：
- 赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁
- 出版信息：
- 页数：8页 | 字数：17 千字 | 开本： 大16开
内容描述
ICS49.140
CCSV25
中华人民共和国国家标准
/—
GBT432262023
宇航用半导体集成电路单粒子软错误
时域测试方法
Time-domaintestmethodsforsacesinleeventsofterrorsof
pg
semiconductorinteratedcircuit
g
2023-09-07发布2024-01-01实施
国家市场监督管理总局
发布
国家标准化管理委员会
/—
GBT432262023
前言
/—《:》
本文件按照标
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