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GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

GB/T 43226-2023 Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit

国家标准 中文简体 现行 页数：8页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 43226-2023
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
V25 电子元器件
国际标准分类号（ICS）
49.140 航天系统和操作装置
发布日期
2023-09-07
实施日期
2024-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
适用范围
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。

发布历史

文前页预览

GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法-第1页
GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法-第2页
GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法-第3页

研制信息

起草单位：
北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
起草人：
赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁
出版信息：
页数：8页 | 字数：17 千字 | 开本： 大16开

内容描述

ICS49.140

CCSV25

中华人民共和国国家标准

/—

GBT432262023

宇航用半导体集成电路单粒子软错误

时域测试方法

Time-domaintestmethodsforsacesinleeventsofterrorsof

pg

semiconductorinteratedcircuit

g

2023-09-07发布2024-01-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT432262023

前言

/—《:》

本文件按照标

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    引用标准
    GB 18871-2002
    GB 18871-2002 电离辐射防护与辐射源安全基本标准
    现行

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