T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法
T/CNS 81-2022 Charge-coupled device proton-induced damage effect simulation test method
团体标准
中文(简体)
现行
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|
格式：PDF
基本信息
标准号
T/CNS 81-2022
标准类型
团体标准
标准状态
现行
发布日期
2022-12-16
实施日期
2023-04-01
发布单位/组织
-
归口单位
中国核学会
适用范围
范围:本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验;
主要技术内容:本文件描述了采用质子对电荷耦合器件（CCD）进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序
发布历史
-
2022年12月
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研制信息
- 起草单位：
- 中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团公司第五研究院物资部
- 起草人：
- 文林、李豫东、郭旗、周东、何承发、张兴尧、于新、冯婕、王信、张丹、崔帅、李鹏伟
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
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