GB/T 6462-2025 金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法

ICS25220202522040

;

CCSA.29...

中华人民共和国国家标准

GB/T6462—2025

代替GB/T6462—2005

金属和氧化物覆盖层厚度测量

显微镜法

Metallicandoxidecoatings—Measurementofcoatingthinckness—

Microscopicalmethod

ISO14632021MOD

(:,)

2025-10-31发布2026-05-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T6462—2025

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

原理

4………………………1

影响测量不确定度的因素

5………………1

表面粗糙度

5.1…………………………1

横截面的斜度

5.2………………………1

覆盖层的变形

5.3………………………2

覆盖层边缘倒角

5.4……………………2

附加镀层

5.5……………2

浸蚀

5.6…………………2

遮盖

5.7…………………2

放大倍数

5.8……………2

测微尺的校准

5.9………………………2

显微镜长度测量设备的校准

5.10………………………2

放大倍数的一致性

5.11…………………3

透镜的质量

5.12…………………………3

测量线的方位

5.13………………………3

镜筒的长度

5.14…………………………3

横截面的制备

6……………3

试验步骤

7…………………4

测量不确定度

8……………4

试验报告

9…………………4

附录资料性关于横截面制备和测量的指南

A()………5

概述

A.1…………………5

镶嵌

A.2…………………5

研磨和抛光

A.3…………………………6

浸蚀

A.4…………………6

其他先进制样方法

A.5…………………6

测量

A.6…………………6

附录资料性横截面的斜度和齿状结构覆盖层的测量

B()……………8

横截面的斜度

B.1………………………8

Ⅰ

GB/T6462—2025

齿状结构覆盖层的测量

B.2……………8

通过使用光学显微镜获得的测量标准偏差的经验值σ

B.3…………9

附录资料性室温下使用的一些典型浸蚀剂

C()………11

参考文献

……………………12

Ⅱ

GB/T6462—2025

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件代替金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法与

GB/T6462—2005《》。GB/T6462—

相比除结构调整和编辑性改动外主要技术变化如下

2005,,:

增加了显微镜长度测量设备的校准见

———(5.10)。

本文件修改采用金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法

ISO1463:2021《》。

本文件与的技术差异及其原因如下

ISO1463:2021:

增加了显微镜长度测量设备校准频率的要求见以增加可操作性

———(5.10.3),。

本文件做了下列编辑性改动

:

删除了第章术语数据库网址

———3IEC、ISO;

更改了局部厚度的来源见

———“”(3.1);

增加了ddddd和d的标引序号和符号说明见附录

———“1,2,3,4,5,6,1,2,3,4,56”(B);

更改了关于横截面制备和测量的指南见附录

———(A);

删除了附录中存在危险的浸蚀剂见附录

———C6(C)。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中国机械工业联合会提出

。

本文件由全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会归口

(SAC/TC57)。

本文件起草单位中国机械总院集团武汉材料保护研究所有限公司东方电气集团东方汽轮机有限

:、

公司湖南常德纳菲尔新材料科技有限公司北京科技大学深圳市晋铭航空技术股份有限公司美的集

、、、、

团股份有限公司东营市工业产品检验与计量检定中心中电建武汉铁塔有限公司南京市锅炉压力容

、、、

器检验研究院

。

本文件主要起草人陈亚平巩秀芳雷同鑫韦雨齐王伟连勇罗东文杨明易娟王立莹张志涛

:、、、、、、、、、、、

张长科汪英薛俊鹏徐斐刘英坤

、、、、。

本文件于年首次发布年第一次修订本次为第二次修订

1986,2005,。

Ⅲ

GB/T6462—2025

金属和氧化物覆盖层厚度测量

显微镜法

警告应用本文件可能涉及危险的材料操作和装置的使用本文件没有提出使用过程中的所有健

:、。

康危害和安全问题在应用本文件前使用者有责任根据国家或当地的规定制定合适的健康和安全条

。,

例并采取相应的措施

,。

1范围

本文件描述了运用光学显微镜检测横截面以测量金属覆盖层氧化膜层和瓷釉或玻璃搪瓷覆盖层

,、

的局部厚度的方法

。

本文件适用于金属和氧化物覆盖层厚度的测量

。

2规范性引用文件

本文件没有规范性引用文件

。

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件

。

31

.

局部厚度localthickness

在参比面内进行规定次数厚度测量的平均值

。

来源

[:GB/T12334—2001,3.4]

4原理

从待测试样上切割一块样品镶嵌后采用适当的技术对横截面进行研磨抛光和浸蚀用校准过

,,、。

的标尺测量覆盖层横截面的厚度

。

注有经验的金相工作者对这些技术很熟悉对于经验不足的操作者第章和附录中给出了指南

:,,5A。

5影响测量不确定度的因素

51表面粗糙度

.

如果覆盖层或覆盖层基体表面是粗糙的那么与覆盖层横截面接触的一条或两条界面线是不规则

,

的以致不能精确测量见附录中

,(AA.6)。

52横截面的斜度

.

如果横截面的平面不垂直于待测覆盖层平面那么测量的厚度将大于真实厚度例如垂直度偏差

,。:

将会带来的不确定度

10°,1.5%。

注附录中提供了关于横截面的斜度指南

:BB.1。

1

GB/T6462—2025

53覆盖层的变形

.

镶嵌试样和制备横截面的过程中过高的温度和压力可能导致软的或低熔点的覆盖层产生有害变

,

形在制备脆性材料横截面时过度的打磨同样会产生变形

;,。

54覆盖层边缘倒角

.

如果覆盖层横截面边缘倒角即覆盖层横截面与边缘不完全平整采用显微镜测量则得不到真实厚

,,

度不正确的镶嵌研磨抛光和浸蚀都会引起边缘倒角因此在镶嵌之前待测试样常要附加镀层这

。、、,,,

样可使边缘倒角减至最小见

(A.2)。

55附加镀层

.

在制备横截面时为了保护覆盖层的边缘避免测量误差常在待测试样上附加镀层在附加镀层

,,,。

前的表面处理过程中覆盖层材质的损耗将导致厚度测量值偏低

,。

56浸蚀

.

适当的浸蚀能在两种金属的界面上产生清晰狭窄的黑线过度的浸蚀会使界线不清晰或线条变宽

;,

使测量产生误差

。

57遮盖

.

不适当的抛光或附加软金属镀层会使一种金属遮盖在另一种金属上造成覆盖层和基体之间的界

,

面线模糊为了减轻遮盖的影响可反复制备金属镀层的横截面直至厚度测量见和出现重

。