T/ZZB 0497-2018 声表面波器件用单晶晶片
T/ZZB 0497-2018 Single crystal wafer for surface acoustic wave device
团体标准
中文(简体)
现行
页数：0页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
T/ZZB 0497-2018
标准类型
团体标准
标准状态
现行
发布日期
2018-08-31
实施日期
2018-09-30
发布单位/组织
-
归口单位
浙江省质量协会
适用范围
主要技术内容:本标准规定了单晶晶片的术语和定义、基本要求、产品要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存、质量承诺。本标准适用于人造石英（QZ）、铌酸锂（LN）、钽酸锂（LT）、四硼酸锂（LBO）和硅酸镓镧（LGS）等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)器件的基片材料
发布历史
-
2018年08月
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研制信息
- 起草单位：
- 本标准由浙江方圆检测集团股份有限公司牵头组织制定。 本标准主要起草单位：中电科技德清华莹电子有限公司。 本标准参与起草单位：浙江方圆检测集团股份有限公司、中国电科第二十六研究所、北京航天微电科技有限公司（排名不分先后）
- 起草人：
- 卢明达、黄顺民、李勇、岳高东、崔坤、贝伟斌、胡少勤、史向龙、杭州明、杨攀、朱卫俊、宋松、林毅、施旭霞
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
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