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SJ 21345-2018 低温低噪声放大器测试方法

SJ 21345-2018 Test methods for cryogenic low noise amplifiers

行业标准-电子 中文(简体) 现行 页数：11页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
SJ 21345-2018
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
-
发布日期
2018-01-18
实施日期
2018-05-01
发布单位/组织
-
归口单位
工业和信息化部电子第四研究院
适用范围
本标准规定了低温低噪声放大器的噪声系数、功率增益、 功率增益平坦度、 l分贝增益压缩输出功率、三阶互调失真、输入回波损耗和输入电压驻波比、输出回波损耗和输出电压驻波比电参数的测试方法

发布历史

文前页预览

SJ 21345-2018 低温低噪声放大器测试方法-第1页
SJ 21345-2018 低温低噪声放大器测试方法-第2页
SJ 21345-2018 低温低噪声放大器测试方法-第3页

研制信息

起草单位：
中国电子科技集团公司第十六研究所
起草人：
章宏、王自力、纪斌
出版信息：
页数：11页 | 字数：- | 开本： -

内容描述

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    GB/T 17573-1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分：总则
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