GB/T 14057.1-2008 放射性污染表面去污 第1部分：试验与评价去污难易程度的方法

ICS13．280

F74

目雪

中华人民共和国国家标准

1988

8690：1

GB／T4057．1--2008／IS0

140571993

代替GB／T

放射性污染表面去污第1部分

试验与评价去污难易程度的方法

Decontaminationofcontaminatedsurfaces——

radioactively

Part1：Methodforandtheeaseof

testingassessing

(ISO8690：1988，IDT)

2009—04—0

2008-07-02发布1实施

宰瞀粥紫瓣警糌瞥霎发布中国国家标准化管理委员会仅19

8690：1988

GB／T14057．1--2008／1SO

目次

前言………………·………

1范围…………··………………·……··[1

2规范性引用文件……···……………··1

3术语和定义………………·……………·…·………··1

4试验原理……………···……………．．2

5仪器设备…………·…·2

6污染液和去污剂……………··……………··………·3

7试验样品··……·……一3

8试验程序………………·……………t4

9试验结果计算及去污难易程度的评价……………··7

lO试验报告………·…·……………···…8

附录A(规范性附录)试样朽染定位器……………··9

附录B(规范性附录)笼式搅拌去污器…………··…··l

附录c(规范性附录)”Co、1”Cs污染溶液的计算公式8

附录D(资料性附录)试验报告范例…9

GB／T8690：1988

14057．1--2008／ISO

刚罱

GB／T

14057{放射性污染表面去污》包括下列两个部分：

——第1部分：试验与评价去污难易程度的方法；

——第2部分：纺织品去污剂的试验方法。

本部分为GB／T14057的第1部分。本部分等同采用ISO8690：1988《放射性污染表面去污——试

验与评价去污难易程度的方法》。

本部分做了下列编辑性修改：

一一删除国际标准前言；

——删除术语和定义中2个术语(英文版3．1污染和3．2去污)。

本部分代替GB／T14057--1993{放射性污染表面去污试验与评价去污难易程度的方法》。

本部分与GB／T14057--1993相比主要变化如下：

14057

——为了便于使用，将GB／T1993与GB／T15850--1995整合为一项标准的两个部分。

——对少数不够准确的表述进行了修改完善。

本部分的附录A、附录B和尉录c为规范性附录，附录D为资料性附录。

本部分由中国核工业集团公司提出。

本部分由全国核能标准化技术委员会(SAC／TC58)归口。

本部分起草单位：核工业标准化研究所、中国核动力研究设计院。

本部分主要起草人：黄富端。

本部分所代替标准的历次版本发布情况为：

140571993。

——GB／T

8690：1988

GB／T14057．1--2008／1S0

放射性污染表面去污第1部分：

试验与评价去污难易程度的方法

1范围

GB／T14057的本部分规定了在实验室条件下，试验与评价放射性污染表面去污难易程度的方法。

本部分适用于为了选择材料的目的评价金属、非金属、各种涂层及地板覆盖材料表面放射性污染去

污的难易程度。

本部分不适用于在高温、高压下，长期接触污染介质的工艺系统的选材，也不适用于评价现场实际

荇染表面去污的难易程度。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB／T14057本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文

件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成

协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本

部分。

ISO2009：1994)

GB／T68开槽沉头螺钉(GB／T68—2000，eqv

ISO

2010：1994)

GB／T69开槽半沉头螺钉(GB／T69—2000，eqv

70．1ISO4762：1997)

GB／T70．I内六角圆柱头螺钉(GB／T2000，eqv

GB／T5277紧固件螺栓和螺钉通孔(GB／TISO273：1979)

5277--1985，eqv

3术语和定义

下列术语和定义适用于本部分。

3．1

rate

比计数率specificpulse

在给定几何条件下，1mL污染溶液由测量装置测得的，经死时间和本底校正后的计数率。单位为

计数／(分·毫升)[(rain·mL)。]。

3．2

rate

残留计数率residualpulse

试样表面去污后，在给定几何条件下，由测量装置对残留放射性核素测得的计数率。单位为计数／

分(min“)。

3．3

residualrate

平均残留计数率meanpulse

同一种放射性核素污染的5块试样测得的各残留计数率的算术平均值。单位为计数／分(min。)。

3．4

meanresidualrate

标准平均残留计数率standardizedpulse

平均残留计数率的校正值。单位为计数／分(rainl)。

其校正因子a为基准比计数率E3×106(rain·mL)_1]与试验用污染溶液的比计数率的比值。

引入校正因子是为了校正不同实验室所用的污染液比计数率之间的差别。

1

GB／T14057．1--2008／ts08690：1988

3．5

residualrate

最终残留计数率finalpulse

对规定的两种核素(”Co、137Cs)分别测得的标准平均残留计数率的算术平均值。单位为计数／分

(min“)。

4试验原理

按6．1．2分别配制”7cs和60Co污染溶液，各准确取100pL，用大面积辐射探测器测得计数，并分

别换算成比计数率。

用上述污染溶液污染材料试样的一定面积，用去离子水去污。测定去污后试样表面的残留计数率。

计算出每种核素的标准平均残留计数率，用它们的算术平均值——最终残留计数率按经验整理出的去

污难易程度表评价材料去污难易程度。

5仪器设备

除一般放射化学实验室常用仪器设备外，还应有5．1～5．8所述仪器设备。

000

5．1两个容量为2mL的矮型玻璃烧杯。

5．2辐射探测器及配套电子仪表。

该探测器灵敏面积的直径应不小于30mm。实际上，按规定的测量几何要求，在正常情况下需使

用更大灵敏面积的探测器。

宜选用流气式正比计数器、闪烁探测器或半导体型探测器。

为满足规定的测量几何要求(L～一12．5mm)：H不得小于3mm。L。。是污染面积中心在探测器截

面上的投影点到灵敏面积边缘的最短距离(mm)，H是由探测器表面到污染试样表面的距离(mm)(见

图1)。

探涮器敏癌面积

图1几何要求(剖面)

如果不能满足(L～一12．5ram)：H大于或等于3

mm的测量几何条件，宜使用灵敏面积直径不小于

30

mm的探测器，而且：

a)为了确定比计数率(8．1)，应将100pL污染液一点一点地滴遍被污染试样表面上直径为

25ram的圆形面积；

b)在上述几何条件下，100pL污染溶液的净脉冲率应不低于2×i05min～。

5．3两支端头可卸换的100pL移液管。

‘

000

5．4两支端头可卸换的1pL移液管。

5．5两个聚四氟乙烯(PTEE)(或具有类似化学稳定性的含氟材料)贮液瓶。

5．6两个聚四氟乙烯(PTEE)烧杯。

(PVDF)，聚四氟乙烯(PTEE)的可能代替材料。

2

8690：1988

GB／T14057．1--2008／150

5．75个试样污染定位器。

由硬质有机玻璃(聚异丁烯酸甲酯)制成，用于在污染操作时协助定位，见附录A。

mm×25mm×2

每个定位器应配备一个扁平的肖氏硬度值不大于60、尺寸为45