1. 当前位置：
  2. 首页 >
  3. 国家级标准 >
  4. GB/T 5095.15-1997

GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分：接触件和引出端的机械试验 第八篇：试验15h接触件固定机构耐工具使用性

GB/T 5095.15-1997 Electromechanical components for electronic equipment Basic testing procedures and measuring methods—Part 15:Mechanical tests on contacts and terminations Section 8:Test 15h—Contact retention system resistance to tool application

国家标准 中文简体 现行 页数：8页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 5095.15-1997
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L23 连接器
国际标准分类号（ICS）
31.220 电子电信设备用机电元件
发布日期
1997-12-26
实施日期
1998-10-01
发布单位/组织
国家技术监督局
归口单位
全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
适用范围
-

发布历史

文前页预览

GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分：接触件和引出端的机械试验 第八篇：试验15h接触件固定机构耐工具使用性-第1页
GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分：接触件和引出端的机械试验 第八篇：试验15h接触件固定机构耐工具使用性-第2页
GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分：接触件和引出端的机械试验 第八篇：试验15h接触件固定机构耐工具使用性-第3页
GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分：接触件和引出端的机械试验 第八篇：试验15h接触件固定机构耐工具使用性-第4页

研制信息

起草单位：
电子工业部标准化研究所
起草人：
佘玉芳、汪其龙、张菊华、王玉堂
出版信息：
页数：8页 | 字数：6 千字 | 开本： 大16开

内容描述

暂无内容

定制服务

    推荐标准

    关联标准

    同系列标准
    GB 5095 第1部分
    GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分：总则
    第1部分 现行
    GB 5095 第2部分
    GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分：一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验
    第2部分 现行
    GB 5095 第3部分
    GB/T 5095.3-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分：载流容量试验
    第3部分 现行
    GB 5095 第4部分
    GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分：动态应力试验
    第4部分 现行
    GB 5095 第5部分
    GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分：撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验
    第5部分 现行
    GB 5095 第6部分
    GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分：气候试验和锡焊试验
    第6部分 现行
    GB 5095 第7部分
    GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分：机械操作试验和密封性试验
    第7部分 现行
    GB 5095 第8部分
    GB/T 5095.8-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分：连接器、接触件及引出端的机械试验
    第8部分 现行
    GB 5095 第9部分
    GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分：杂项试验
    第9部分 现行
    GB 5095 第11部分
    GB/T 5095.11-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分：气候试验
    第11部分 现行
    GB 5095 第12部分
    GB/T 5095.12-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分：锡焊试验 第六篇：试验12f 在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂
    第12部分 现行
    GB 5095 第23-3部分
    GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分：屏蔽和滤波试验 试验23c：连接器和附件的屏蔽效果 线注入法
    第23-3部分 现行
    GB 5095 第23-4部分
    GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分：屏蔽和滤波试验 试验23d：时域内传输线的反射
    第23-4部分 现行
    GB 5095 第23-7部分
    GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分：屏蔽和滤波试验 试验23g：连接器的有效转移阻抗
    第23-7部分 现行
    GB 5095 第25-1部分
    GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分：试验25a：串扰比
    第25-1部分 现行
    GB 5095 第25-2部分
    GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分：试验25b：衰减(插入损耗)
    第25-2部分 现行
    GB 5095 第25-3部分
    GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分：试验25c：上升时间衰减
    第25-3部分 现行
    GB 5095 第25-4部分
    GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分：试验25d：传输时延
    第25-4部分 现行
    GB 5095 第25-5部分
    GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分：试验25e：回波损耗
    第25-5部分 现行
    GB 5095 第25-6部分
    GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分：试验25f：眼图和抖动
    第25-6部分 现行
    GB 5095 第25-7部分
    GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分：试验25g：阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)
    第25-7部分 现行
    GB 5095 第25-9部分
    GB/T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分：信号完整性试验 试验25i：外来串扰
    第25-9部分 现行
    引用标准
    GB/T 5095.2-1997
    GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分：一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验
    现行
    GB/T 5095.8-1997
    GB/T 5095.8-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分：连接器、接触件及引出端的机械试验
    现行
    采用标准
    IEC 512-15-8:1995
    IEC 512-15-8:1995

    相似标准推荐

    更多>