DB2306/T 191-2023 塑料大棚薄皮甜瓜套种礼品西瓜生产技术规程
DB2306/T 191-2023 Plastic greenhouse thin-skinned watermelon intercropping with gift watermelon production technical regulations
基本信息
发布历史
-
2023年12月
研制信息
- 起草单位:
- 起草人:
- 出版信息:
- 页数:8页 | 字数:- | 开本: -
内容描述
ICS65.020.20
CCSB31
2306
黑龙江省大庆市地方标准
DB2306/T191—2023
塑料大棚薄皮甜瓜套种礼品西瓜生产技术
规程
2023-12-31发布2024-01-31实施
大庆市市场监督管理局发布
DB2306/T191—2023
目次
前言.................................................................................II
1范围...............................................................................1
2规范性引用文件.....................................................................1
3术语和定义.........................................................................1
4产地环境...........................................................................1
5品种选择...........................................................................2
6播前准备...........................................................................2
7播种...............................................................................2
8定植...............................................................................3
9田间管理...........................................................................3
10病虫害防治........................................................................4
11采收..............................................................................5
12生产档案..........................................................................5
I
DB2306/T191—2023
前言
本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件由大庆市农业农村局提出并归口。
本文件由大庆市农业农村局实施。
本文件起草单位:黑龙江八一农垦大学、大庆市银浪牧场有限公司、黑龙江省农业科学院大庆分院、
大庆市农业农村局。
本文件主要起草人:李响、聂海洋、杨升、王岭、张雨婷、杨凤军、车野、韩墨、齐国超、陈刚、
秦好岩、李春霞、姚璇
II
DB2306/T191—2023
塑料大棚薄皮甜瓜套种礼品西瓜生产技术规程
1范围
定制服务
推荐标准
- GB/T 14026-1992 半导体集成电路微型计算机电路系列和品种80C86系列的品种 1992-12-17
- GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 1992-12-18
- GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 1992-12-18
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- GB/T 14012-1992 黑白显象管玻壳总规范(可供认证用) 1992-12-17
- GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 1992-12-18
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- GB/T 13951-1992 移动式平台及海上设施用电工电子产品环境试验一般要求 1992-12-19
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- GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 1992-12-18