GB/T 12444-2006 金属材料 磨损试验方法 试环-试块滑动磨损试验
GB/T 12444-2006 Metallic materials—Wear test method—Block-on-ring sliding wear test
国家标准
中文简体
现行
页数:10页
|
格式:PDF
基本信息
标准号
GB/T 12444-2006
标准类型
国家标准
标准状态
现行
发布日期
2006-11-01
实施日期
2007-02-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国钢标准化技术委员会
适用范围
本标准规定了金属试环试块磨损试验的术语及定义、试验原理、试样、试验设备及仪器、试验方法、试验结果处理及试验报告。
本标准适用于金属材料在滑动摩擦条件下磨损量及摩擦系数的测定。
注: 本标准也可用于其他材料的试验。
发布历史
-
2006年11月
研制信息
- 起草单位:
- 钢铁研究总院、济南试金集团有限公司、冶金工业信息标准研究院
- 起草人:
- 李久林、高怡斐、陈召宝、董莉
- 出版信息:
- 页数:10页 | 字数:17 千字 | 开本: 大16开
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 15883-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范 评定水平E 1995-12-22
- GB/T 15877-1995 蚀刻型双列封装引线框架规范 1995-12-22
- GB/T 15884-1995 电子设备用固定电阻器 第5部分:空白详细规范:精密固定电阻器 评定水平 F 1995-12-22
- GB/T 15886-1995 C型射频同轴连接器 1995-12-22
- GB/T 15876-1995 塑料四面引线扁平封装引线框架规范 1995-12-22
- GB/T 15880-1995 电子设备用电位器 第3部分:分规范:旋转式精密电位器 1995-12-22
- GB/T 15882-1995 电子设备用膜固定电阻网络 第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络分规范 1995-12-22
- GB/T 15878-1995 小外形封装引线框架规范 1995-12-22
- GB/T 15885-1995 电子设备用固定电阻器 第4部分:空白详细规范:功率型固定电阻器 评定水平 F 1995-12-22
- GB/T 15879-1995 半导体器件的机械标准化 第5部分:用于集成电路载带自动焊(TAB)的推荐值 1995-12-22