T/CPIA 0060-2024 铸造单晶硅材料性能评价技术规范

T/CPIA 0060-2024 Silicon single crystal material performance evaluation technical specification for casting

团体标准中文(简体) 现行页数：6页 | 格式：PDF

基本信息

标准号

T/CPIA 0060-2024

标准类型

团体标准

标准状态

现行

中国标准分类号（CCS）

国际标准分类号（ICS）

27.160 太阳能工程

发布日期

2024-03-10

实施日期

2024-03-15

发布单位/组织

归口单位

中国光伏行业协会

适用范围

主要技术内容:本文件规定了铸造单晶硅材料的术语和定义、技术要求、检验方法、检验规则。本文件适用于铸造单晶硅锭开方后的硅块的性能评价

发布历史

2024年03月

T/CPIA 0060-2024　铸造单晶硅材料性能评价技术规范

当前标准现行 2024-03-10

文前页预览

研制信息

起草单位：: 江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、无锡市检验检测认证研究院、江西赛维LDK太阳能高科技有限公司、金阳硅业（徐州）有限公司、苏州阿特斯阳光电力科技有限公司、英利能源发展有限公司、浙江大学、浙大宁波理工学院、国信认证无锡有限公司、宁夏国信检研科技有限公司、新余赛维铸晶技术有限公司、普德光伏技术（苏州）有限公司

起草人：: 汪晨、张华利、陈红荣、吴晓丽、何亮、杨振帮、胡动力、吴希哲、吴坚、潘明翠、原帅、章金兵、钦卫国、王炳楠、李建敏、蒋建平

出版信息：: 页数：6页 | 字数：- | 开本： -

内容描述

ICS27.160

CCSH82

团体标准

T/CPIA0060—2024

铸造单晶硅材料性能评价技术规范

TechnicalspecificationforperformanceevaluationofCAST

monocrystallinesilicon

2024-03-10发布2024-03-15实施

中国光伏行业协会发布

T/CPIA0060—2024

前言.................................................................................III

1范围................................................................................1

2规范性引用文件......................................................................1

3术语和定义..........................................................................1

4技术要求............................................................................1

4.1外观质量........................................................................1

4.2电学性能........................................................................1

4.3间隙氧含量和代位碳含量..........................................................1

4.4位错缺陷........................................................................2

4.5单晶面积比例....................................................................2

5检验方法............................................................................2

5.1外观质量........................................................................2

5.2电学性能的检验..................................................................2

5.3间隙氧含量和代位碳含量的检验....................................................2

5.4位错缺陷的检验..................................................................2

5.5单晶面积比例的检

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