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GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法

GB/T 36655-2018 Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method

国家标准 中文简体 现行 页数：7页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 36655-2018
标准类型
国家标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
L90/94 电子设备与专用材料、零件、结构件
国际标准分类号（ICS）
31.030 电子技术专用材料
发布日期
2018-09-17
实施日期
2019-01-01
发布单位/组织
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
适用范围
本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。
本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析，0.5%~5%定量分析。

发布历史

文前页预览

GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法-第1页
GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法-第2页
GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法-第3页

研制信息

起草单位：
国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司
起草人：
封丽娟、李冰、陈进、夏永生、曹家凯、吕福发、阮建军、王松宪
出版信息：
页数：7页 | 字数：12 千字 | 开本： 大16开

内容描述

ICS31.030

L90

中华人民共和国国家标准

/—

GBT366552018

电子封装用球形二氧化硅微粉中态晶体

α

二氧化硅含量的测试方法XRD法

Testmethodforalhacrstallinesilicondioxidecontentofshericalsilica

pyp

—

owderforelectronicackainXRDmethod

ppgg

2018-09-17发布2019-01-01实施

国家市场监督管理总局

发布

中国国家标准化管理委员会

/—

GBT366552018

前言

本标准按照

定制服务

    推荐标准

    关联标准

    引用标准
    JY/T 009
    JY/T 009-1996 转靶多晶体X射线衍射方法通则
    废止

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