GB/T 22094-2008 电子数显测高仪

ICS17．040．30

J42

a国

中华人民共和国国家标准

GB／T

Ej

电子数显测仪

同

instrumentwithelectronic

measuringdigitaldisplay

Height

2008-06-25发布

丰瞀粥紫瓣警雠瞥星发布中国国家标准化管理委员会“”’

22094--2008

GB／T

刖置

本标准由中国机械工业联合会提出。

132)归口。

本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC／TC

本标准起草单位：成都工具研究所、马尔精密量仪(苏州)有限公司。

本标准主要起草人：李维国、姜志刚、唐以杰、何东星、王春。

22094—2008

GB／T

电子数显测高仪

1范围

本标准规定了电子数显测高仪的术语和定义、型式与基本参数、工作条件、要求、试验方法、检验方

法、标志与包装等。

000

本标准适用于分辨力为0．1pm、0．2pm、0．5pm和1pm，量程不超过1mm的电子数显测高

仪(以下简称“测高仪”)。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有

的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究

是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。

2423．3—2006

GB／T电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验

60068

(IEC2—78：2001，IDT)

2423．22—2002

GB／T电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化

60068—2—14：1984，IDT)

(IEC

IEC

GB529：1989)

4208--2008外壳防护等级(IP代码)(eqv

GB／T17163几何量测量器具术语基本术语

17626．261000—4—2：2001，

GB／T2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(IEC

IDT)

61000—4—

GB／T17626．3—2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC

3：2002，IDT)

3术语和定义

GB／T17163中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。

3．1

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