SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
SJ/T 11399-2009 SJ/T 11399-2009 Semiconductor Light Emitting Diode Chip Test Method
行业标准-电子
简体中文
现行
页数：11页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
SJ/T 11399-2009
标准类型
行业标准-电子
标准状态
现行
发布日期
2009-11-17
实施日期
2010-01-01
发布单位/组织
工业和信息化部
归口单位
中国电子技术标准化研究所
适用范围
-
发布历史
-
2009年11月
研制信息
- 起草单位：
- 中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等
- 起草人：
- 鲍超、胡爱华 等
- 出版信息：
- 页数：11页 | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- GB/T 25253-2010 酚醛树脂涂料 2010-09-26
- GB/T 25252-2010 酚醛树脂防锈涂料 2010-09-26
- GB/T 25254-2010 工业用聚四亚甲基醚二醇(PTMEG) 2010-09-26
- GB/T 25259-2010 过氯乙烯树脂涂料 2010-09-26
- GB/T 25255-2010 光学功能薄膜 聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)薄膜 拉伸性能测定方法 2010-09-26
- GB/T 25256-2010 光学功能薄膜 离型膜 180°剥离力和残余黏着率测试方法 2010-09-26
- GB/T 25262-2010 硫化橡胶或热塑性橡胶 磨耗试验指南 2010-09-26
- GB/T 25257-2010 光学功能薄膜 翘曲度测定方法 2010-09-26
- GB/T 25261-2010 建筑用反射隔热涂料 2010-09-26
- GB/T 25260.1-2010 合成胶乳 第1部分：羧基丁苯胶乳(XSBRL)56C、55B 2010-09-26