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T/HBAI 001-2024 有机发光二极管显示器 表面云纹 (Mura)缺陷量化方法

T/HBAI 001-2024 Organic Light Emitting Diode Display Surface Mura Defect Quantification Methodology

团体标准 中文(简体) 现行 页数：0页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
T/HBAI 001-2024
标准类型
团体标准
标准状态
现行
中国标准分类号（CCS）
-
国际标准分类号（ICS）
31.120 电子显示器件
发布日期
2024-10-17
实施日期
2024-10-25
发布单位/组织
-
归口单位
湖北省人工智能学会
适用范围
范围:本文件规定了有机发光二极管显示器表面云纹（Mura）缺陷量化的分级标准及实验条件、方法。 本文件主要适用于有机发光二极管显示器。 本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法，同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型，包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型; 主要技术内容:本文件主要技术内容包括基于人眼空间响应的Mura缺陷量化的主观实验测试方法，该方法采用双刺激度对照实验方法，以减少主观因素对实验结果的影响。同时提出Mura缺陷各因素的计算方法和量化模型，包括多因素非线性拟合模型和基于MLP的神经网络模型。通过对双刺激度对照实验获得的数据进行筛选处理，并进行多因素非线性拟合和基于多层感知机的神经网络训练拟合，得到多因素量化公式和神经网络量化模型，考虑因素包括Mura缺陷对比度、尺寸、类型

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研制信息

起草单位：
华中科技大学、武汉精测电子集团股份有限公司、武汉数字化设计与制造创新中心有限公司
起草人：
杨华、尹周平、郑增强、朱钦淼、刘天洋、唐斯昂、闻铭、刘洒、林松、陈若愚
出版信息：
页数：- | 字数：- | 开本： -

内容描述

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