DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范
DB51/T 3207-2024 Microwave Probe Application Specification for Integrated Circuit Test
四川省地方标准
简体中文
现行
页数：0页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
DB51/T 3207-2024
标准类型
四川省地方标准
标准状态
现行
发布日期
2024-12-03
实施日期
2024-12-29
发布单位/组织
四川省市场监督管理局
归口单位
四川省经济和信息化厅
适用范围
本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。 本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
发布历史
-
2024年12月
文前页预览
当前资源暂不支持预览
研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第九研究所
- 起草人：
- 刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
定制服务
推荐标准
- T/CQAE 11014-2019 软件产品竞争力指标体系与评价 2019-11-28
- T/EGAG 001-2019 广东省电子政务服务能力水平评定管理规范 2019-12-15
- T/ZGCJM 001-2019 机动车驾驶实车智能培训系统 2019-09-20
- T/ITS 0121-2019 道路运输领域从业资格电子证件 车载设备安全交互规范 2019-12-27
- T/CCOA 5-2019 粮食流通基础数据元 2019-03-28
- T/TIAPASP 0001-2017 旅游数据中心涉旅资源编码规范 2017-05-17
- T/QZZN 03-2021 智能门禁实验箱 2021-07-28
- T/DSIA 0701-2018 信息技术 职业技能 运行维护工程师 2018-07-01
- T/SCCF 011-2023 规则指标体系的检察内部信息化规范 2023-04-07
- T/CHIA 19.1-2021 脑血管病电子病历数据集标准 第 1 部分：入院记录 2021-07-11