DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范
DB51/T 3207-2024 Microwave Probe Application Specification for Integrated Circuit Test
四川省地方标准
简体中文
现行
页数：0页
|
格式：PDF
基本信息
标准号
DB51/T 3207-2024
标准类型
四川省地方标准
标准状态
现行
发布日期
2024-12-03
实施日期
2024-12-29
发布单位/组织
四川省市场监督管理局
归口单位
四川省经济和信息化厅
适用范围
本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。 本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
发布历史
-
2024年12月
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研制信息
- 起草单位：
- 中国电子科技集团公司第九研究所
- 起草人：
- 刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪
- 出版信息：
- 页数：- | 字数：- | 开本： -
内容描述
暂无内容
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