GB/T 33675-2026 冷冬等级
GB/T 33675-2026 Grades of cold winter
基本信息
本文件适用于冷冬的监测、预测、评价及服务。
发布历史
-
2017年05月
-
2026年03月
文前页预览
研制信息
- 起草单位:
- 国家气候中心、国家气象中心
- 起草人:
- 向洋、吴焕萍、陈峪、艳艳、赵琳、关月
- 出版信息:
- 页数:20页 | 字数:19 千字 | 开本: 大16开
内容描述
ICS07060
CCSA.47
中华人民共和国国家标准
GB/T33675—2026
代替GB/T33675—2017
冷冬等级
Gradesofcoldwinter
2026-03-31发布2026-07-01实施
国家市场监督管理总局发布
国家标准化管理委员会
GB/T33675—2026
目次
前言
…………………………Ⅲ
范围
1………………………1
规范性引用文件
2…………………………1
术语和定义
3………………1
冷冬判定
4…………………2
冷冬等级划分
5……………2
附录规范性单站冷冬阈值取值
A()……………………4
附录规范性区域冷冬指数计算
B()……………………6
附录规范性全国冷冬指数计算
C()……………………9
参考文献
……………………11
Ⅰ
GB/T33675—2026
前言
本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定
GB/T1.1—2020《1:》
起草
。
本文件代替冷冬等级与相比除结构调整和编辑性改
GB/T33675—2017《》,GB/T33675—2017,
动外主要技术变化如下
,:
删除了冷冬年确定见年版的第章
a)“”(20174);
更改了区域强冷冬全国强冷冬的判定见年版的
b)“”“”(5.2、5.3,20173.2、3.3);
增加了目标年及气候平均值选用年代的规定见附录的
c)“”(AA.1);
增加了区域有效面积单位有效网格强冷冬面积区域冷冬面积区域冷冬指数区域强
d)“”“”“”“”“
冷冬面积区域强冷冬指数全国强冷冬指数的计算见附录的附录的
”“”“”(BB.2、B.4~B.8,C
C.5)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任
。。
本文件由中国气象局提出
。
本文件由全国气候与气候变化标准化技术委员会归口
(SAC/TC540)。
本文件起草单位国家气候中心国家气象中心
:、。
本文件主要起草人向洋吴焕萍陈峪艳艳赵琳关月
:、、、、、。
本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为
:
年首次发布为
———2017GB/T33675—2017;
本次为第一次修订
———。
Ⅲ
GB/T33675—2026
冷冬等级
1范围
本文件规定了单站冷冬区域冷冬全国冷冬的判定和等级的划分
、、。
本文件适用于冷冬的监测预测评价及服务
、、。
2规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件
。
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件
。
31
.
气候平均值climatologicalnormal
气候态
常年值
最近连续个整年代的气象要素平均值
3。
注按照世界气象组织规定气候平均值的取值每年代更新一次如年年期间采用
:(WMO),。:2011—2020,
年年的平均值作为其气候平均值年年期间采用年年的平均值作为其
1981—2010;2021—2030,1991—2020
气候平均值依此类推
;。
来源有修改
[:GB/T21983—2020,2.2,]
32
.
冬季平均气温meansurfaceairtemperatureinwinter
月至次年月季节平均的气温
122。
注气温是指距离地表的大气温度单位为摄氏度
:2m,(℃)。
33
.
冬季平均气温距平wintermeansurfaceairtemperatureanomaly
冬季平均气温与其气候平均值之差
(3.2)(3.1)。
34
.
冷冬coldwinter
冬季平均气温距平低于规定阈值时的气候现象
(3.3)。
35
.
单站weatherstation
单一气象观测站
。
36
.
区域region
给定的行政区气候区流域等的地理范围
、、。
注不包括全国整体范围
:。
1
定制服务
推荐标准
- GB/T 6619-1995 硅片弯曲度测试方法 1995-04-18
- GB/T 4058-1995 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 1995-04-18
- GB/T 5230-1995 电解铜箔 1995-04-18
- GB/T 1817-1995 硬质合金常温冲击韧性试验方法 1995-04-18
- GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法 1995-04-18
- GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 1995-04-18
- GB/T 6616-1995 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 1995-04-18
- GB/T 4436-1995 铝及铝合金管材外形尺寸及允许偏差 1995-04-18
- GB/T 1554-1995 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法 1995-04-18
- GB/T 6618-1995 硅片厚度和总厚度变化测试方法 1995-04-18