GB/T 4192-2026 电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法

ICS31.030

CCSL90

中华人民共和国国家标准

GB/T4192—2026

代替GB/T4192—1984

电真空器件及电光源用钨、钼材料

电阻率的测试方法

Methodfordeterminingtheresistivityoftungstenandmolybdenumusedin

electricvacuumdevicesandlightsources

2026⁃08⁃28发布2027⁃03⁃01实施

国家市场监督管理总局

国家标准化管理委员会发布

GB/T4192—2026

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规

定起草。

本文件代替GB/T4192—1984《电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法》，与GB/T4192—

1984相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：

a）增加了术语“密度”“横截面积”和“测量长度”（见3.3，3.4，3.5）；

b）将“试样的制备”更改为“试样”，且试样尺寸进行了调整，试样形状的一致性要求提高（见

第5章，1984年版的第3章）；

c）将“长度测量”“电阻的测定”“试样横截面积的测量”合并为“试验程序”，且根据测试仪器的变

化做了相应的变化（见第6章，1984年版的第4章、第5章、第6章）；

d）增加了“试验报告”（见第8章）。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出并归口。

本文件起草单位：成都虹波实业股份有限公司、中国电子技术标准化研究院、厦门虹鹭钨钼工业有

限公司、成都长城钨钼新材料有限责任公司、成都国光电气股份有限公司、中国电子科技集团公司第十二

研究所、重庆材料研究院有限公司、中国电子科技集团公司第四十六研究所、多场低温科技（北京）有限

公司。

本文件主要起草人：任柴、宋豪、曹可慰、李伟、史泽远、孙红云、陈培育、赵俊莎、于志强、汤瑾、吴怡然、

林洁、谢志国、陈道全、刘冬梅、张宝帅、许倩影、杨晓亮、刘立娜、刘国龙、苏丹。

本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为：

——1984年首次发布为GB/T4192—1984；

——本次为第一次修订。

Ⅰ

GB/T4192—2026

电真空器件及电光源用钨、钼材料

电阻率的测试方法

1范围

本文件描述了电真空器件及电光源用钨、钼及其合金的棒、丝、板、片、箔、带材电阻率材料电阻率

的测试方法。

本文件适用于电真空器件及电光源用钨、钼及其合金的棒、丝、板、片、箔、带材电阻率的测定。

2规范性引用文件

本文件没有规范性引用文件。

3术语和定义

下列术语和定义适用于本文件。

3.1

电阻率resistivity

单位长度和单位截面积的导体电阻值。

3.2

电阻温度系数temperaturecoefficientofresistance

当温度改变1℃时，电阻值的相对变化。

3.3

密度density

物质单位体积所拥有的质量。

注：本文件中引用试样密度均为理论值，钼的理论密度是10.20g/cm³，钨的理论密度是19.30g/cm³。

3.4

横截面积cross⁃sectionarea

垂直于电流方向的截面面积。

3.5

测量长度measuringlength

试样两电位端之间的长度。

4仪器和材料

4.1直流电阻测试仪

性能应满足附录A的规定。

4.2千分尺

精度：0.001mm。

1