国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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现行
译：YS/T 1160-2016 Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction适用范围：本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。 本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。【国际标准分类号(ICS)】 ：29.045半导体材料 【中国标准分类号(CCS)】 ：H12轻金属及其合金分析方法发布单位或类别：(CN-YS)行业标准-有色金属 | 发布时间： 2016-07-11 | 实施时间： 2017-01-01收藏
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