适用范围：主要技术内容:本文件规范了气流传感器的范围、术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。本文件适用于插针式、贴片式、引线式类气流传感器。本产品主要用于电子烟气流传感，用来检查吸烟时的负压转换成输出电压驱动雾化装置

适用范围：范围:本文件适用于超级拼版多层印制电路板。该印制板包括带有镀覆孔的多层板,带有或不带埋/盲孔的多层板; 主要技术内容:本文件规定了超级拼版多层印制电路板的术语和定义、性能等级和类型、要求、试验方法、验收

适用范围：主要技术内容:本文件规定了射频识别应答器天线的基本要求、 技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存、质量承诺。本文件适用于由铝箔蚀刻所得、 应用于射频识别应答器的天线

适用范围：本文件规定了印制电路用覆铜箔环氧玻纤布层压板（以下简称“覆铜板”)的产品分类、材料、技术要求、试验方法、质量保证、包装、标志、运输、贮存及订货文件。 本文件适用于厚度为0.05 mm～6.4 mm的单面或双面覆铜板的设计、制造、出货监控以及下游用户的进货检验等。

适用范围：主要技术内容:本文件规定了BPMP系列推入式射频同轴连接器的技术要求、试验方法和交付准备等。本文件适用于BPMP系列推入式射频同轴连接器（以下简称射频同轴连接器）的设计、制造和验收

适用范围：本标准规定了锡焊用助焊剂的分类、技术要求、试验方法、检验规则以及标识、包装、运输、储存。本标准适用于电子产品锡焊用助焊剂。

适用范围：本文件提供了宇航用元器件结构分析的一般流程和方法，给出了样品、分析试验流程、结构单元分解和结构要素识别方法、结构判别依据等需考虑的信息。本文件适用于半导体集成电路、半导体分立器件、光电器件、电阻器、电容器、电连接器、继电器、开关、熔断器、石英晶体、声表器件、滤波器、射频元件等类别元器件的结构分析工作，其他类别元器件参照执行。

适用范围：范围:本文件适用于延迟线型声表面波传感器阵列; 主要技术内容:本文件规定了延迟型声表面波传感器阵列规范的术语和定义、延迟线型声表面波传感器阵列的组成、叉指换能器设置、反射栅组设置、反射栅组合、叉指换能器间距等规范

适用范围：主要技术内容:本文件规定了轨道交通用牵引电机圆形电连接器（以下简称：电连接器）的技术要求、质量保证规定、交货准备和型号命名规则。本文件适用于轨道交通用牵引电机圆形电连接器的设计、制造和验收

适用范围：主要技术内容:本文件规定了1.0mm、1.27mm、2.0mm、2.54mm间距印制板用两件式连接器的技术要求、试验方法和交付准备等。本文件适用于1.0mm、1.27mm、2.0mm、2.54mm间距印制板用两件式连接器的设计、制造和验收

适用范围：主要技术内容:本文件规定了轨道交通用GTCM系列高可靠圆形光电混装连接器的技术要求、试验方法和交付准备等。本文件适用于轨道交通用GTCM系列高可靠圆形光电混装连接器（以下简称：连接器）的设计、制造和验收

适用范围：本文件规定了刚性覆铜箔层压板的术语和定义、分类及型号、命名及标识以及材料、外观、尺寸、质量保证、包装、标志、运输和贮存等共性要求。 本文件适用于印制电路用刚性覆铜箔层压板（以下简称覆铜板）。 本文件不适用于金属基和陶瓷基等特殊覆铜板。

适用范围：主要技术内容:本文件规定了金属应变片式微型力传感器的基本参数和优先值、技术要求、试验方法和验收规则及标志、包装、储存。本文件适用于金属应变片式微型力传感器

适用范围：GB/T 39560的本部分描述了两种标准方法和两种参考方法，用于测定在电子电气产品聚合物中的邻苯二甲酸二异丁酯（DIBP）、邻苯二甲酸二正丁酯（DBP）、邻苯二甲酸丁苄酯（BBP）、邻苯二甲酸二异辛酯（DEHP）、邻苯二甲酸二正辛酯（DNOP）、邻苯二甲酸二异壬酯（DINP）以及邻苯二甲酸二异癸酯（DIDP）。 本部分的标准方法是气相色谱-质谱（GC-MS）法与配有热裂解/热脱附的气相色谱-质谱（Py/TD-GC-MS）法。 GC-MS法是定量测定DIBP、DBP、BBP、DEHP、DNOP、DINP 和DIDP 的标准方法，测定范围从50 mg/kg到2 000 mg/kg。 配有热裂解/热脱附的气相色谱-质谱法（Py/TD-GC-MS），适用于筛选和半定量分析电子电气产品聚合物材料中的DIBP、DBP、BBP、DEHP、DNOP、DINP和DIDP，测定范围为100 mg/kg到2 000 mg/kg。 离子附着质谱法（IAMS）适用于DIBP、DBP、BBP、DEHP、DNOP、DINP以及DIDP的筛选和半定量分析，详见附录A。由于质谱峰分辨率的限制，用IAMS法测定DBP和 DIBP、DEHP和DNOP的方法尚未确定。 液相色谱-质谱法（LC-MS）仅限于BBP、DEHP、DNOP、DINP 和DIDP的测定，详见附录B。由于质谱峰分辨率的限制，用LC-MS技术测定DBP和DIBP的方法尚未确定。 附录C中提供的流程图，描述了如何使用两种标准方法：Py/TD-GC-MS和GC-MS，及如何使用两种参考方法：直接进样（DIP）-离子附着质谱（IAMS）和液相色谱-质谱（LC-MS）。 这四种测试方法已经通过测试邻苯二甲酸酯含量约450 mg/kg至30 000 mg/kg的聚乙烯（PE）和聚氯乙烯（PVC）材料进行评估。本部分所述的四种方法对其他聚合物类型、邻苯二甲酸类化合物或上述规定浓度范围之外的使用未做具体评估。

适用范围：《电子设备用电位器》的本部分适用于电子设备用表面安装预调电位器。 本部分规定了表面安装预调电位器的优先额定值和特性，并从IEC 60393-1中选择适用的质量评定程序、试验和测量方法，并给出一般性能要求。

适用范围：GB/T 39560的本部分采用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物、金属和电子件中的汞。 本部分规定了电子电气产品中汞（Hg）含量的测定。这些材料可以是聚合物、金属及电子件（如：印刷线路板、荧光灯、汞开关）。含汞电池参照参考文献[1]进行处理。国际实验室方法研究仅对塑料的检测方法进行了评估，而未涉及其他类型的基体。 本部分中的样品是指处理和检测的对象。样品是什么样的、以及如何获得样品，由执行检测的机构确定。为检测电子产品中限用物质的含量，如何从中获得其代表性样品的进一步指南见IEC 62321-2。值得注意的是，样品的选择和/或确定可能影响检测结果的解释。 本部分描述了四种方法的使用，即CV-AAS（冷蒸气原子吸收光谱法）、CV-AFS（冷蒸气原子荧光光谱法）、ICP-OES（电感耦合等离子体发射光谱法）和ICP-MS（电感耦合等离子体质谱法），以及几种制备样品溶液的方法，可以从中选择最合适的分析方法。 用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定目标元素-汞，具有高准确性（不确定度小）和/或高灵敏度（检出限低至μg/kg水平）的特点。本部分描述的测试步骤可以测定4 mg/kg～1000 mg/kg含量范围内的汞，且准确度和精确度高。这些方法也适用于更高含量汞的测定。 采用热分解-金汞齐结合CV-AAS（TD（G）-AAS）的方法无需样品消解，也可用于汞的直接测定。由于样品量少，检出限会高于其他方法。

适用范围：GB/T 6346的本部分适用于表面安装的导电聚合物固体电解质钽固定电容器（以下简称电容器）。 表面安装MnO2固体电解质钽固定电容器不包括在本部分内，但被IEC 60384-3所覆盖。 这类电容器主要用于直接安装在混合电路基板上或印制电路板上。 特殊用途应用的电容器可能需要补充技术条件。

适用范围：GB/T 39560的本部分描述了AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中铅、镉和铬的方法。 本部分规定了电子电气产品中镉（Cd）、铅（Pb）和铬（Cr）含量的测定。它涵盖了三种类型的基体：聚合物/聚合物组件、金属及合金和电子件。 本部分中的样品是指处理和检测的对象。样品及其获得方式由实施检测的机构确定。为检测电子产品中限用物质的含量，如何从中获得其代表性样品的进一步指南见IEC 62321-2。样品的选择和/或测定可能影响对检测结果的解释。 本部分规定了电子电气产品中镉（Cd）、铅（Pb）和铬（Cr）含量的测定方法，介绍了四种仪器的检测方法（AAS、AFS、ICP-OES、ICP-MS）以及几种样品化学前处理方法（样品溶液的制备），可以从中选择最合适的方法。 由于聚合物和电子件中的六价铬有时难以测定，本部分描述了除AFS以外的聚合物和电子件中铬的筛选方法。铬的分析能提供材料中是否存在六价铬的信息。然而，元素分析不能选择性地测定六价铬，它测定的是样品中的总铬含量。如果总铬含量超过六价铬的限量，则应进行六价铬的确证检测。 本部分所述的ICP-OES和AAS法在测定含量高于10 mg/kg Pb、Cd和Cr；或者ICP-MS法测定高于0.1 mg/kg的Pb、Cd；或者AFS法测定高于10 mg/kg的Pb，高于1.5 mg/kg的Cd时，可获得最好的准确度和精密度。这些方法也可以测试更高含量的样品。 因为材料稳定性的关系，本部分不适用于含多氟聚合物的样品。如果在分析过程中使用硫酸，则存在Pb损失的风险，从而会得到错误的偏低的分析值。此外，因为可能干扰Cd的还原，硫酸和氢氟酸不适合于原子荧光光谱法测定Cd。 样品的溶解过程存在局限性和风险，例如可能发生目标物或其他元素的沉淀，在这种情况下，残留物应单独检查或用其他方法溶解，然后与测试样品溶液合并。

适用范围：GB/T 12274的本部分适用于质量评定以能力批准为基础的、按定制产品或标准产品制作的石英晶体振荡器。 本部分规定了总规范IEC 60679-1中给出的优先额定值和特性以及试验和测量方法，并给出了石英晶体振荡器详细规范中采用的通用性能要求。 优先额定值可直接应用于标准产品，但是不一定适用于定制产品。

适用范围：GB/T 39560的本部分规定了在聚合物和电子件样品中定量检测六价铬［Cr(Ⅵ)］的方法。本部分测定方法采用有机溶剂来溶解或溶胀样品基体，随后采用碱性消解程序从样品中提取六价铬。研究表明，对于从可溶性和不可溶性的样品中提取六价铬，有机/碱性溶液提取效果比酸性溶液更有效。在碱性溶液条件下，六价铬还原成三价铬或者三价铬氧化成六价铬的程度最少。 对于ABS(丙烯腈-丁二烯-苯乙烯)、PC(聚碳酸酯)和PVC(聚氯乙烯)构成的可溶性聚合物样品，首先要用适当的有机溶剂将样品进行溶解，然后用碱性提取液来提取六价铬。 对于不含锑(Sb)的不可溶解的或未知的聚合物或者电子件材料，首先将样品放入150 ℃到160 ℃的甲苯/碱性溶液中消解，然后将提取物中的有机相分离并丢弃，保留无机相用于六价铬分析。 提取物中的六价铬浓度是通过提取物在酸性条件下与1，5-二苯卡巴肼的反应来测定。在与二苯卡巴肼的反应过程中，六价铬被还原为三价铬，而二苯卡巴肼被氧化为二苯卡巴腙。然后三价铬和二苯卡巴腙进一步反应形成一种紫红色化合物。然后用色度计或分光光度计在540 nm处对该紫红色化合物溶液进行定量测定。