19 试验
65 农业
77 冶金
  • SJ/T 11486-2015 小功率LED芯片技术规范 现行
    译:SJ/T 11486-2015 SJ/T 11486-2015 Small Power LED Chip Technical Specification
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间: 2015-04-30 | 实施时间: 2015-10-01
  • DB35/T 1193-2011 半导体发光二极管芯片 现行
    译:DB35/T 1193-2011 Semiconductor light-emitting diode chip
    适用范围:本标准规定了半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则、包装、贮存和运输。 本标准适用于可见光半导体发光二极管芯片。紫外光和红外光半导体发光二极管芯片以及外延片的测试可参考执行
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-DB35)福建省地方标准 | 发布时间: 2011-10-28 | 实施时间: 2012-02-15
  • DB35/T 1176-2011 道路照明用功率发光二极管 废止
    译:DB35/T 1176-2011 Power-emitting light-emitting diodes for road lighting
    适用范围:本标准规定了LED道路、隧道照明用功率发光二极管的要求、试验方法、检验规则和包装贮存运输 要求。 本标准适用于LED 道路、隧道照明用1W 功率发光二极管(仅适应于蓝光LED 芯片激发荧光粉形 成的白光LED)。其他功率的功率发光二极管可参照执行。 室内照明用功率发光二极管可参照执行。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-DB35)福建省地方标准 | 发布时间: 2011-09-23 | 实施时间: 2011-12-23
  • T/CVIA 116-2023 Micro LED显示屏通用技术规范 中大尺寸显示屏 现行
    译:T/CVIA 116-2023 Micro LED display common technical specification for medium and large size displays
    适用范围:本文件界定了80吋及以上Micro LED显示屏的术语定义。规定了Micro LED显示屏分类、技术要求、质量检验规范、检验规则、标志、包装、运输、贮存。 本文件适用于80吋及以上Micro LED显示屏包含Micro LED商用显示屏、Micro LED电视机、Micro LED监视器等的设计、生产、采购及验收。本文件不适用于医疗设备用、电影放映用等特殊用途显示产品。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: - | 实施时间: -
  • T/CSA 100-2025 Micro-LED芯片光电性能测试方法 现行
    译:T/CSA 100-2025 Micro-LED chip optical performance testing methods
    适用范围:本文件描述了单色Micro-LED芯片的光电性能测试方法。 本文件适用于发光台面(mesa)的长边边长(或直径)在1 μm~50 μm范围内的单色Micro-LED芯片的光电性能测试评估。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: - | 实施时间: -
  • T/ZSA 136-2022 微型计算机用外挂式薄膜触摸显示屏技术规范 现行
    译:T/ZSA 136-2022 Microcomputer External Mounting Thin Film Touch Display Specification
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.120电子显示器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:() | 发布时间: - | 实施时间: -
  • T/CSA 099-2025 Micro-LED芯片外量子效率测试方法 现行
    译:T/CSA 099-2025 The test method for external quantum efficiency of Micro-LED chips
    适用范围:本文件描述了低功率(nW~μW)微型发光二极管(以下简称Micro-LED)的外量子效率(EQE)测量方法,包括:Micro-LED芯片的点测和LED封装的测试。
    【国际标准分类号(ICS)】 :31.080半导体分立器件 【中国标准分类号(CCS)】 :L53半导体发光器件
    发布单位或类别:(CN-TUANTI)团体标准 | 发布时间: - | 实施时间: -