国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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被代替
译：GB/T 17507-1998 General specification of thin biological standards for X-Ray EDS microanalysis in electron microscope【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-10-16 | 实施时间： 1999-07-01收藏 -
被代替
译：GB/T 17359-1998 General specification of X-ray EDS Quantitative analysis for EPMA and SEM【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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译：GB/T 17363-1998 Method of quantitative electron probe microanalysis on gold products【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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译：GB/T 17362-1998 Nondestructive method of X-ray EDS analysis with SEM for gold jewelry【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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译：GB/T 17361-1998 Identification method of authigenic clay mineral in sedimentary rock by SEM and XEDS【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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译：GB/T 17365-1998 Method of preparation for samples of metal and alloy in electron probe microanalysis【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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译：GB/T 17364-1998 Non-damage quantitative analysis of gold content in gold products【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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译：GB/T 17360-1998 Method of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and Mn in steels【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 17366-1998 Methods of mineral and rock specimen preparation for EPMA【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1998-05-08 | 实施时间： 1998-12-01收藏
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废止
译：GB 7667-1996 The dose of X-rays leakage from electron microscope【国际标准分类号(ICS)】 ：37.020光学设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1996-08-13 | 实施时间： 1996-12-01收藏
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现行
译：GB/T 6360-1995 Specification for laser radiation power and energy measuring equipment【国际标准分类号(ICS)】 ：31.260光电子学、激光设备 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-07-24 | 实施时间： 1996-01-01收藏
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被代替
译：GB/T 15616-1995 Quantitative method for electron probe microanalysis of metals and alloys【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.99有关光学和光学测量的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1995-07-12 | 实施时间： 1996-02-01收藏
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译：GB/T 15247-1994 Electron probe quantitative analysis method of carbon in carbon steel and low alloy steel—Sensitivity curve method (detection limit method)【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1994-10-17 | 实施时间： 1995-06-01收藏
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废止
译：GB/T 15075-1994 Method for testing EPMA instrument【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1994-05-09 | 实施时间： 1994-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 15074-1994 General guide for EPMA quantitative analysis【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1994-05-09 | 实施时间： 1994-12-01收藏
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被代替
译：GB/T 4930-1993 General specification of electron probe microanalysis standard specimen【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180.30光学测量仪器 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1993-08-30 | 实施时间： 1994-07-01收藏
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被代替
译：GB/T 13742-1992 Optical transer function—accuracy of measurement【国际标准分类号(ICS)】 ：17.180光学和光学测量 【中国标准分类号(CCS)】 ：N33电子光学与其他物理光学仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 1992-11-04 | 实施时间： 1993-08-01收藏
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