国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
71 化工技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
-
即将实施
译：QC/T 1290-2026 The technical requirements and testing methods for the control chip of automobile chassis【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-QC)行业标准-汽车 | 发布时间： 2026-06-01 | 实施时间： 2026-12-01收藏 -
现行
译：DL/T 2343.3-2025 Electrical Energy Measurement Equipment Component Specification Part 3: Non-Volatile Memory适用范围：本文件规定了电能计量设备用非易失性存储器（以下简称“存储器”）的环境条件、技术要求、试验方法、检验规则、标识和随行文件、包装、运输和贮存。本文件适用于电能计量设备用非易失性存储器的检验和验收。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L10/34电子元件发布单位或类别：(CN-DL)行业标准-电力 | 发布时间： 2025-12-18 | 实施时间： 2026-06-18收藏
-
现行
译：SJ/T 12026-2025 General method for evaluating computing power performance【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
-
现行
译：SJ/T 12035-2025 Artificial intelligence chips and test indicators and testing methods for edge deep learning chips【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
-
现行
译：SJ/T 12039-2025 Method for verifying the consistency of mixed-signal chip design【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
-
现行
译：SJ/T 12040-2025【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
-
现行
译：SJ/T 12038-2025 Simulation chip design consistency verification method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
-
现行
译：SJ/T 12025-2025 General performance evaluation technology requirements for computing power【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
-
现行
译：SJ/T 12037-2025 Artificial intelligence chip Cloud-side training deep learning chip testing indicators and testing methods【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
-
现行
译：SJ/T 12036-2025 Artificial intelligence chips Cloud-side inference Deep learning chip testing indicators and testing methods【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
-
现行
译：SJ/T 12034-2025 Artificial intelligence chip Edge-side deep learning chip testing indicators and testing methods【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2025-09-09 | 实施时间： 2026-03-01收藏
-
现行
译：SJ/T 11875-2022 The stress testing procedure for semiconductor integrated circuits used in electric vehicles【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2022-10-20 | 实施时间： 2023-01-01收藏
-
现行
译：SJ/T 11846-2022 Voltage Regulator Low Frequency Noise Parameter Test Method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2022-10-20 | 实施时间： 2023-01-01收藏
-
现行
译：SJ/T 11790-2021 SJ/T 11790-2021 Solid State Drive Energy Consumption Test Method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L63计算机外围设备发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2021-10-08 | 实施时间： 2021-11-01收藏
-
现行
译：YD/T 3944-2021 The benchmarking method for artificial intelligence chips适用范围：本文件规定了人工智能芯片基准测试框架、评测指标及评估方法，主要包括基本信息披露和技术测试。 本文件适用于芯片厂商或检测机构对具有人工智能算法加速能力的处理器或加速器的基准测试工作。【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L56半导体集成电路发布单位或类别：(CN-YD)行业标准-邮电通信 | 发布时间： 2021-08-21 | 实施时间： 2021-11-01收藏
-
现行
译：SJ/T 11704-2018 The test method for digital signal transmission characteristics of microelectronic packaging【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
-
现行
译：SJ/T 2406-2018 SJ/T 2406-2018 Microwave circuit model naming method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
-
现行
译：SJ/T 10805-2018 Voltage comparator testing method for semiconductor integrated circuits【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
-
现行
译：SJ/T 11700-2018 SJ/T 11700-2018 IP core quality information description method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
-
现行
译：SJ/T 11705-2018 Microelectronic device packaging ground and power supply impedance testing method【国际标准分类号(ICS)】 ：31.200集成电路、微电子学 【中国标准分类号(CCS)】 ：L55/59微电路发布单位或类别：(CN-SJ)行业标准-电子 | 发布时间： 2018-02-09 | 实施时间： 2018-04-01收藏
现行
现行
现行
现行
现行