国际标准分类(ICS)
19 试验
25 机械制造
29 电气工程
31 电子学
37 成像技术
45 铁路工程
61 服装工业
65 农业
67 食品技术
77 冶金
79 木材技术
85 造纸技术
93 土木工程
95 军事工程
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被代替
译：GB/T 17360-2008 Quantitative analysis method of low content Si and Mn in steel with electron probe microanalysis适用范围：本标准规定了低合金钢和碳钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法，即标定曲线法。 本标准适用于带波谱仪的扫描电镜。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.99有关分析化学的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N53电化学、热化学、光学式分析仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2008-06-16 | 实施时间： 2009-03-01收藏 -
现行
译：GB/T 21638-2008 Guide for electron beam microanalysis of defect in steel materials适用范围：本标准规定了钢铁材料缺陷电子束显微分析的术语、分析方法和程序、分析报告内容等。 本标准适用于钢铁材料内部及表面缺陷的电子束显微分析。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.99有关分析化学的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N53电化学、热化学、光学式分析仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2008-04-11 | 实施时间： 2008-10-01收藏
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现行
译：GB/T 20725-2006 Electron probe microanalysis guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry适用范围：本标准是用电子探针或者扫描电镜中的波谱仪获得试样特定体积内(μm 3尺度)的X射线谱，进行元素鉴别和确认特定元素存在的一种标准方法。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.99有关分析化学的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N53电化学、热化学、光学式分析仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-12-25 | 实施时间： 2007-08-01收藏
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被代替
译：GB/T 20724-2006 Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction适用范围：本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10－9 m～0.1×10-3 m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。【国际标准分类号(ICS)】 ：71.040.99有关分析化学的其他标准 【中国标准分类号(CCS)】 ：N53电化学、热化学、光学式分析仪器发布单位或类别：(CN-GB)国家标准 | 发布时间： 2006-12-25 | 实施时间： 2007-08-01收藏
被代替
现行
现行
被代替