1. 当前位置：
  2. 首页 >
  3. 国家级标准 >
  4. GB/T 20724-2006

GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

GB/T 20724-2006 Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction

国家标准 中文简体 被代替 已被新标准代替，建议下载标准 GB/T 20724-2021 | 页数：6页 | 格式：PDF

基本信息

标准号
GB/T 20724-2006
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
中国标准分类号（CCS）
N53 电化学、热化学、光学式分析仪器
国际标准分类号（ICS）
71.040.99 有关分析化学的其他标准
发布日期
2006-12-25
实施日期
2007-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
适用范围
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10－9 m～0.1×10-3 m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。

发布历史

文前页预览

GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法-第1页
GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法-第2页
GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法-第3页
GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法-第4页

研制信息

起草单位：
北京科技大学
起草人：
柳得橹
出版信息：
页数：6页 | 字数：8 千字 | 开本： 大16开

内容描述

暂无内容

定制服务

    推荐标准

    关联标准

    引用标准
    GB/T 18907-2002
    GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
    被代替
    被以下标准替代
    GB/T 20724-2021
    GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
    现行

    相似标准推荐

    更多>