GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 20724-2006 Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
基本信息
标准类型
国家标准
标准状态
被代替
发布日期
2006-12-25
实施日期
2007-08-01
发布单位/组织
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位
全国微束分析标准化技术委员会
适用范围
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10－9 m～0.1×10-3 m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
发布历史
-
2006年12月
-
2021年12月
研制信息
- 起草单位：
- 北京科技大学
- 起草人：
- 柳得橹
- 出版信息：
- 页数：6页 | 字数：8 千字 | 开本： 大16开
内容描述
暂无内容
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