适用范围：本文件描述了各类矿物、岩石等地质样品的电子探针显微分析试样的通用制备方法。 本文件适用于矿物、岩石的电子探针显微分析试样的制备。

适用范围：本文件规定了以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪最重要的特性参数。 本文件仅适用于使用基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。 本文件规定了与扫描电子显微镜(SEM)或电子探针显微分析仪(EPMA)联用的此类能谱仪性能参数的最低要求及核查方法。用于能谱分析的程序,已由ISO 22309[2]和ASTM E1508[3]规范,不在本文件范围之内。

适用范围：本文件描述了电子束下稳定的天然硅酸盐矿物的电子探针定量分析方法。 本文件适用于天然硅酸盐矿物，也适用于人工合成硅酸盐材料和其他含氧盐，如磷酸盐、硫酸盐等，以及氧化物矿物和材料。 本文件适用于用电子探针进行的定量分析，也适用于安装了波谱仪的扫描电子显微镜进行的定量分析。

适用范围：本文件规定了应用电子探针显微分析仪或者安装在扫描电镜（SEM）的波谱仪（WDS），通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。 本文件还包括如下内容： ——定量分析原理； ——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围； ——仪器的一般要求； ——有关试样制备、实验条件选择、分析测量和报告等基本过程。 本文件适用于电子束垂直入射到表面平滑、均匀的块状试样的定量分析。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者宜从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器规格等信息。

适用范围：本文件给出了用电子探针显微分析仪或者扫描电镜的波谱仪附件获得试样特定体积内（μm3尺度）的X射线谱进行元素鉴别和确认特定元素存在的方法。

适用范围：本文件规定了用于透射电子显微镜观察聚合物复合材料的超薄切片样品制备方法及技术规范。 本文件适用于常温或冷冻条件下能进行超薄切片的聚合物复合材料制样。

适用范围：本文件描述了用于电子探针分析的金属与合金块状试样的制备方法。 本文件适用于电子探针或配备能谱或波谱仪的扫描电镜定量分析用的标准样品和试样。 本文件不适用于制备颗粒度小于5 μm或厚度小于4 μm的试样。

适用范围：本文件规定了用聚焦离子束扫描电镜对致密岩石微孔隙进行三维成像的方法。 本文件适用于泥岩、页岩、致密碳酸盐岩、致密砂岩和煤岩等岩石50 nm⁓20 μm的微纳米级孔隙分析，其他地质样品参照执行。

适用范围：本文件规定了电子探针显微分析仪（电子探针)定量分析的仪器设备、标准样品、试样制备、测量前的准备、测量条件的选择、测量过程、电子束入射电流的测量、各元素质量分数的计算、测量不确定度的评定和结果报告。 本文件适用于电子探针对试样中各元素的定量测量及数据处理，带有波谱仪的扫描电镜的定量分析参照执行。

适用范围：本文件规定了采用电子束显微技术分析钢铁材料缺陷的仪器设备、分析方法与程序、分析报告等。 本文件适用于钢铁材料内部及表面缺陷的电子束显微分析。

适用范围：本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。 本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。 本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。 注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。 注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。 注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况，将增大颗粒计数的不确定度。

适用范围：本文件确立了采用微波等离子体原子发射光谱仪对样品中金属和部分非金属元素进行定性和定量分析的通用规则。本文件适用于采用微波等离子体原子发射光谱仪以液体进样方式对样品中常量至痕量金属和部分非金属元素的定性、定量分析。本文件不适用于固体直接进样方式。

适用范围：本文件描述了用X射线光电子能谱技术(XPS)测定石墨烯粉体中氧元素含量(原子分数)和碳氧比的方法。本文件适用于石墨烯粉体、石墨烯浆料，其他碳基纳米材料的测定参照执行。

适用范围：本文件描述了用安装在扫描电镜（SEM)或电子探针（EPMA)上的能谱仪对试样上特定点或特定区域进行定量分析的方法。定量分析是指用质量分数(百分数)表示元素的含量。正确鉴别试样中所有元素是定量分析中必不可少的组成部分，因此，本文件也包含这方面的内容。本文件描述了多种能谱法定量分析方法。 本文件适用于利用参考物质或“无标样”程序对质量分数高于1％的、原子序数Z>10的元素进行定量分析。 本文件也给出了对原子序数小于11的轻元素分析方法的信息。 注： 当没有重叠峰，并且相应的特征X射线被强烈地激发时，能谱仪也可以测量质量分数在0.1％水平的元素。本文件主要应用于表面平整试样的定量分析，基本方法也适用于表面不平整试样的分析，但会引入附加的不确定度分量。 目前没有公认的轻元素的准确能谱法（EDS)定量分析方法，以下是几种常用于轻元素分析的 EDS方法。 a) 测量峰面积并对比峰强度。如附录 A 中所述的原因，这种方法对轻元素分析结果的不确定度比重元素大。 b) 当已知试样中的轻元素以化学计量的方式与重元素（Z>10)结合时，该轻元素的浓度可以通过与其他元素的相关浓度比进行测定。这种方法通常用于硅酸盐矿物试样中氧的测定。 c) 通过差值法计算浓度，即用100％ 减去能够分析元素的总百分数即为轻元素的百分数。这种方法只有在很好的束流稳定性和单独测量至少一个参考样品的条件下才能够应用，并且还需要精确测定试样中的其他元素。 附录A总结了重元素存在时轻元素定量分析中的问题。如果仪器上安装了能谱仪和波谱仪（WDS)，可以用WDS来克服EDS分析中的低能量谱峰重叠问题。然而，许多其他问题对于这两种技术来说都是共同的。

适用范围：本文件描述了美术用品中初级芳香胺的液相色谱串联质谱测定方法。本文件适用于美术用品(包括蜡笔、油画棒、水粉画颜料、油画颜料、丙烯画颜料)中初级芳香胺的测定。

适用范围：本文件描述了采用气体渗透法测定分离膜平均孔径的方法。本文件适用于孔径为0.01 μm~0.2 μm平板膜和中空纤维膜在干态下的平均孔径的测试，其他形式的分离膜可参考执行。本文件适用于试验气体为氮气，其他非凝聚性气体，如He、H2、O2、Ar等可参考本文件执行。

适用范围：本文件描述了多孔疏水膜的透水压力和临界润湿值的测试方法。本文件适用于在膜分离过程中膜孔道中保持为气相或油相、孔径范围为0.01 μm~10.0 μm的分离膜疏水性能的测试。

适用范围：本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注： 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀，用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。

适用范围：本文件规定了使用安装在电子探针（EPMA）或扫描电镜（SEM）上的能谱仪（EDS）或波谱仪（WDS）分析粉末中的颗粒时的试样制备方法。根据分析目的和颗粒尺寸，对粉末颗粒试样的制备方法进行了分类。 本文件适用于粒径范围在100 nm~100 μm的无机物颗粒。 本文件不适用于一些特殊应用，如法医分析或痕量分析。

适用范围：本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢（铁质量分数大于95%）中硅、锰含量的校准曲线法。本标准适用于电子探针波谱仪，不适用于能谱仪。带波谱仪的扫描电镜可以参照使用。